表面缺陷检测方法、装置、设备及存储介质

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202510369784.3

申请日：

2025-03-27

公开(公告)号：

CN119904452B

公开(公告)日：

2025-07-15

发明(设计)人：

郎宁王飞邓栋高一鸣梁杰魏志豪胡月吕志愿

申请人：

成都飞机工业（集团）有限责任公司

申请人地址：

610000 四川省成都市青羊区黄田坝纬一路88号

IPC主分类号：

G06T7/00

IPC分类号：

G06T7/194 G06V10/25 G06V10/82

代理机构：

广州三环专利商标代理有限公司 44202

代理人：

杨子亮

法律状态：

公开

国省代码：

四川省成都市

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-04-29	公开	公开
2025-07-15	授权	授权
2025-05-16	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G06T 7/00申请日:20250327

共 50 条

[1]

表面缺陷检测方法、装置、设备及存储介质 [P].

郎宁 ;

王飞 ;

邓栋 ;

高一鸣 ;

梁杰 ;

魏志豪 ;

胡月 ;

吕志愿 .

中国专利 :CN119904452A ,2025-04-29

[2]

表面缺陷检测方法、设备及存储介质 [P].

许高 ;

章锐 ;

毕海 ;

刘祥 ;

闫晓庆 .

中国专利 :CN118781113B ,2024-12-27

[3]

表面缺陷检测方法、设备及存储介质 [P].

许高 ;

章锐 ;

毕海 ;

刘祥 ;

闫晓庆 .

中国专利 :CN118781113A ,2024-10-15

[4]

产品表面缺陷的检测方法、设备及存储介质 [P].

孟凡武 ;

许一尘 ;

潘勤学 ;

郝娟 ;

周世圆 .

中国专利 :CN112950594A ,2021-06-11

[5]

缺陷检测方法、设备及存储介质 [P].

韦敏 ;

杨嘉成 .

中国专利 :CN119477927A ,2025-02-18

[6]

表面缺陷检测方法、装置、设备及存储介质 [P].

左正新 ;

王飞亚 ;

汪顺利 ;

卢丹 ;

范秋敏 .

中国专利 :CN112669318A ,2021-04-16

[7]

表面缺陷检测方法、装置、设备及存储介质 [P].

董立超 ;

赵东峰 ;

艾立夫 ;

刘艺 ;

朱春霖 ;

刘宝山 ;

彭旭 .

中国专利 :CN111929310B ,2020-11-13

[8]

表面缺陷检测方法、装置、设备及存储介质 [P].

董立超 ;

赵东峰 ;

艾立夫 ;

刘艺 ;

朱春霖 ;

刘宝山 ;

彭旭 .

中国专利 :CN112883601A ,2021-06-01

[9]

检测装置、表面缺陷检测方法、装置、设备及存储介质 [P].

杨泽国 ;

孙亚轩 ;

刘爱江 ;

杨喜峰 ;

李文 .

中国专利 :CN119757350B ,2025-12-16

[10]

检测装置、表面缺陷检测方法、装置、设备及存储介质 [P].

杨泽国 ;

孙亚轩 ;

刘爱江 ;

杨喜峰 ;

李文 .

中国专利 :CN119757350A ,2025-04-04

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