表面缺陷检测方法、设备及存储介质

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202411261497.2

申请日：

2024-09-10

公开(公告)号：

CN118781113B

公开(公告)日：

2024-12-27

发明(设计)人：

许高章锐毕海刘祥闫晓庆

申请人：

季华实验室

申请人地址：

528200 广东省佛山市南海区桂城街道环岛南路28号

IPC主分类号：

G06T7/00

IPC分类号：

G06N3/0464 G06N3/08 G06T7/73 G06V10/58 G06V10/764 G06V10/80 G06V10/82 G06V20/10

代理机构：

深圳市世纪恒程知识产权代理事务所 44287

代理人：

李俊杰

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2024-12-27	授权	授权
2024-10-15	公开	公开
2024-11-01	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G06T 7/00申请日:20240910

共 50 条

[1]

表面缺陷检测方法、设备及存储介质 [P].

许高 ;

章锐 ;

毕海 ;

刘祥 ;

闫晓庆 .

中国专利 :CN118781113A ,2024-10-15

[2]

产品表面缺陷的检测方法、设备及存储介质 [P].

孟凡武 ;

许一尘 ;

潘勤学 ;

郝娟 ;

周世圆 .

中国专利 :CN112950594A ,2021-06-11

[3]

表面缺陷检测方法、装置、设备及存储介质 [P].

郎宁 ;

王飞 ;

邓栋 ;

高一鸣 ;

梁杰 ;

魏志豪 ;

胡月 ;

吕志愿 .

中国专利 :CN119904452B ,2025-07-15

[4]

表面缺陷检测方法、装置、设备及存储介质 [P].

郎宁 ;

王飞 ;

邓栋 ;

高一鸣 ;

梁杰 ;

魏志豪 ;

胡月 ;

吕志愿 .

中国专利 :CN119904452A ,2025-04-29

[5]

缺陷检测方法、设备及存储介质 [P].

韦敏 ;

杨嘉成 .

中国专利 :CN119477927A ,2025-02-18

[6]

表面缺陷检测方法、装置、设备及存储介质 [P].

董立超 ;

赵东峰 ;

艾立夫 ;

刘艺 ;

朱春霖 ;

刘宝山 ;

彭旭 .

中国专利 :CN111929310B ,2020-11-13

[7]

表面缺陷检测方法、装置、设备及存储介质 [P].

董立超 ;

赵东峰 ;

艾立夫 ;

刘艺 ;

朱春霖 ;

刘宝山 ;

彭旭 .

中国专利 :CN112883601A ,2021-06-01

[8]

产品缺陷检测方法、设备及存储介质 [P].

张辉 ;

刘昌祥 .

中国专利 :CN118037719A ,2024-05-14

[9]

产品缺陷检测方法、设备及存储介质 [P].

张辉 ;

刘昌祥 .

中国专利 :CN118037719B ,2024-07-02

[10]

缺陷检测方法、装置、设备及存储介质 [P].

陈亮 .

中国专利 :CN114529511A ,2022-05-24

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