测试项目确定方法及装置、存储介质和电子设备

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专利类型
发明
申请号
CN201811044826.2
申请日
2018-09-07
公开(公告)号
CN110888036A
公开(公告)日
2020-03-17
发明(设计)人
林祐贤
申请人
申请人地址
230000 安徽省合肥市经济技术开发区翠微路6号海恒大厦630室
IPC主分类号
G01R3128
IPC分类号
代理机构
北京律智知识产权代理有限公司 11438
代理人
王辉;阚梓瑄
法律状态
实质审查的生效
国省代码
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共 50 条
[1]
抖动确定方法及装置、存储介质和电子设备 [P]. 
不公告发明人 .
中国专利 :CN110888045A ,2020-03-17
[2]
测试项目确定方法、装置、电子设备和存储介质 [P]. 
马鑫 ;
王悦 .
中国专利 :CN120950314A ,2025-11-14
[3]
芯片测试方法、系统、电子设备及存储介质 [P]. 
朴英斗 ;
宋秀良 ;
刘金海 .
中国专利 :CN114121140A ,2022-03-01
[4]
项目测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P]. 
冯高丰 .
中国专利 :CN118227452A ,2024-06-21
[5]
一种芯片测试方法、装置、电子设备及可读存储介质 [P]. 
成学娇 ;
林耀坤 ;
吴义桂 .
中国专利 :CN120629868A ,2025-09-12
[6]
软件测试方法及装置、电子设备和存储介质 [P]. 
孙明刚 ;
刘涛 ;
田镇国 ;
李琦 .
中国专利 :CN120316017A ,2025-07-15
[7]
软件测试方法及装置、电子设备和存储介质 [P]. 
孙明刚 ;
刘涛 ;
田镇国 ;
李琦 .
中国专利 :CN120316017B ,2025-08-08
[8]
项目计划确定方法、装置、电子设备及存储介质 [P]. 
张高毅 ;
谢公湛 .
中国专利 :CN120235405A ,2025-07-01
[9]
项目测试方法、装置、电子设备和存储介质 [P]. 
刘亚亚 ;
王刚 .
中国专利 :CN120596361A ,2025-09-05
[10]
测试项目添加方法、装置、电子设备及存储介质 [P]. 
付堃 ;
张晶鑫 ;
吴栋杨 ;
练子富 ;
李临 .
中国专利 :CN114694821A ,2022-07-01