低维纳米材料显微结构与电学性能测试装置

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN200920107022.2

申请日：

2009-05-15

公开(公告)号：

CN201637699U

公开(公告)日：

2010-11-17

发明(设计)人：

韩晓东刘攀张泽

申请人：

申请人地址：

100124 北京市朝阳区平乐园100号

IPC主分类号：

G01N2304

IPC分类号：

G01N2700 G01R3100

代理机构：

北京思海天达知识产权代理有限公司 11203

代理人：

刘萍

法律状态：

专利权的终止

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2013-07-10	专利权的终止	未缴年费专利权终止号牌文件类型代码:1605 号牌文件序号:101488125643 IPC(主分类):G01N 23/04 专利号:ZL2009201070222 申请日:20090515 授权公告日:20101117 终止日期:20120515
2010-11-17	授权	授权

共 50 条

[1]

低维纳米材料显微结构与电学性能测试装置和方法 [P].

韩晓东 ;

刘攀 ;

张泽 .

中国专利 :CN101545872B ,2009-09-30

[2]

纳米线的显微结构与电学性能测试装置 [P].

韩晓东 ;

刘攀 ;

张泽 .

中国专利 :CN201488957U ,2010-05-26

[3]

纳米线的显微结构与电学性能测试装置 [P].

韩晓东 ;

刘攀 ;

张泽 .

中国专利 :CN101545871A ,2009-09-30

[4]

应力状态下纳米材料力电性能与显微结构测量装置 [P].

韩晓东 ;

刘攀 ;

张跃飞 ;

岳永海 ;

张泽 .

中国专利 :CN201340380Y ,2009-11-04

[5]

一种定量测试力电性能与显微结构的传感器 [P].

韩晓东 ;

刘攀 ;

岳永海 ;

张泽 .

中国专利 :CN201522985U ,2010-07-07

[6]

生物显微结构绘图装置 [P].

靳青 ;

李后魂 ;

成海建 ;

万发春 ;

刘桂芬 ;

游伟 ;

刘晓牧 ;

宋恩亮 ;

谭秀文 ;

刘倚帆 .

中国专利 :CN204210210U ,2015-03-18

[7]

纳米材料热性能测试装置 [P].

余以文 .

中国专利 :CN209167178U ,2019-07-26

[8]

一种电学材料性能测试装置 [P].

王北一 .

中国专利 :CN211347718U ,2020-08-25

[9]

定量测试力电性能与显微结构的传感器及制作方法 [P].

韩晓东 ;

刘攀 ;

岳永海 ;

张泽 .

中国专利 :CN101837943B ,2010-09-22

[10]

应力状态下纳米材料力电性能与显微结构测量装置和方法 [P].

韩晓东 ;

刘攀 ;

张跃飞 ;

岳永海 ;

张泽 .

中国专利 :CN101464244A ,2009-06-24

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