检测装置、检测方法、程序、光刻装置和物品制造方法

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN201710247044.8
申请日
2017-04-17
公开(公告)号
CN107305320B
公开(公告)日
2017-10-31
发明(设计)人
坂本宪稔
申请人
申请人地址
日本东京
IPC主分类号
G03F720
IPC分类号
代理机构
中国贸促会专利商标事务所有限公司 11038
代理人
宋岩
法律状态
实质审查的生效
国省代码
引用
下载
收藏
共 50 条
[1]
光刻装置、光刻方法、程序、光刻系统和物品制造方法 [P]. 
宫岛义一 ;
中野一志 .
中国专利 :CN105892231B ,2016-08-24
[2]
检测装置、光刻装置以及物品制造方法 [P]. 
松田光一郎 .
中国专利 :CN110531586B ,2019-12-03
[3]
检测装置、测量装置、光刻装置和制造物品的方法 [P]. 
前田普教 .
中国专利 :CN106094442A ,2016-11-09
[4]
检测装置、检测方法和检测程序 [P]. 
石川史也 .
日本专利 :CN118104217A ,2024-05-28
[5]
检测方法、检测装置和程序 [P]. 
林博昭 ;
佐野聪 ;
高桥美义 ;
秋山知也 ;
和田廉央 .
日本专利 :CN119908028A ,2025-04-29
[6]
标记检测装置、光刻装置以及物品制造方法 [P]. 
丸田卓司 .
日本专利 :CN121008455A ,2025-11-25
[7]
检测装置、光刻装置以及物品的制造方法 [P]. 
赤松昭郎 .
中国专利 :CN104516214B ,2015-04-15
[8]
检测装置、网关装置、检测方法和检测程序 [P]. 
吉田圭吾 ;
滨田芳博 ;
上田浩史 ;
足立直树 ;
相羽慎一 .
中国专利 :CN112823495A ,2021-05-18
[9]
检测装置、网关装置、检测方法和检测程序 [P]. 
滨田芳博 ;
吉田圭吾 ;
上田浩史 ;
足立直树 ;
相羽慎一 .
中国专利 :CN112889244A ,2021-06-01
[10]
检测装置、曝光装置和物品制造方法 [P]. 
山口涉 .
日本专利 :CN112180696B ,2024-06-18