多用元器件电性能参数测试治具

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN202020087034.X

申请日：

2020-01-15

公开(公告)号：

CN211785666U

公开(公告)日：

2020-10-27

发明(设计)人：

李俊

申请人：

申请人地址：

518000 广东省深圳市龙华区民治街道民治社区1970科技园7栋712

IPC主分类号：

G01R104

IPC分类号：

G01R3128

代理机构：

深圳科湾知识产权代理事务所(普通合伙) 44585

代理人：

钟斌

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2020-10-27	授权	授权
2022-12-23	专利权的终止	未缴年费专利权终止 IPC(主分类):G01R 1/04 申请日:20200115 授权公告日:20201027 终止日期:20220115

共 50 条

[1]

晶体RPP电性能参数测试分选装置 [P].

狄建兴 ;

张勇 ;

周志勇 .

中国专利 :CN205436372U ,2016-08-10

[2]

充电器性能参数测试系统及治具 [P].

熊军 ;

许其昌 .

中国专利 :CN204287353U ,2015-04-22

[3]

电子元器件参数测试平台 [P].

刘友举 ;

黄雁彬 ;

周俊生 ;

李丽秀 ;

修建国 ;

何璞 .

中国专利 :CN202177671U ,2012-03-28

[4]

电性能测试治具 [P].

丁贞龙 ;

万静龙 ;

万锦军 .

中国专利 :CN202614800U ,2012-12-19

[5]

晶体RPP电性能参数测试分选装置及分选方法 [P].

狄建兴 ;

张勇 ;

周志勇 .

中国专利 :CN105642567A ,2016-06-08

[6]

一种电性能参数的测试夹具 [P].

田尉成 ;

施健媛 ;

吕壮志 ;

王国勇 .

中国专利 :CN211374814U ,2020-08-28

[7]

电子元器件定位治具 [P].

康志强 .

中国专利 :CN201361832Y ,2009-12-16

[8]

元器件印锡治具 [P].

熊艳春 .

中国专利 :CN201709038U ,2011-01-12

[9]

电子元器件参数测试平台 [P].

刘友举 ;

黄雁彬 ;

周俊生 ;

李丽秀 ;

修建国 ;

何璞 .

中国专利 :CN102305908A ,2012-01-04

[10]

一种片式元器件浪涌测试治具 [P].

陈增 ;

陈耀平 ;

李平 .

中国专利 :CN215180565U ,2021-12-14

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