半导体器件及用于形成栅极结构的方法

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN200510115145.7
申请日
2005-11-10
公开(公告)号
CN1790740B
公开(公告)日
2006-06-21
发明(设计)人
B·H·恩格尔 S·M·卢卡里尼 J·D·西尔韦斯特里 王允愈
申请人
申请人地址
美国纽约
IPC主分类号
H01L2978
IPC分类号
H01L2940 H01L21336 H01L2128
代理机构
北京市中咨律师事务所 11247
代理人
于静;李峥
法律状态
实质审查的生效
国省代码
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共 50 条
[1]
栅极结构、具有栅极结构的半导体器件及形成栅极结构和半导体器件的方法 [P]. 
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[2]
形成半导体器件栅极的方法 [P]. 
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[3]
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[4]
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[5]
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[8]
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[9]
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[10]
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