半导体器件及形成其栅极的方法

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专利类型
发明
申请号
CN200810110697.2
申请日
2008-06-13
公开(公告)号
CN101325158B
公开(公告)日
2008-12-17
发明(设计)人
吴泷虎
申请人
申请人地址
韩国首尔
IPC主分类号
H01L2128
IPC分类号
H01L21336 H01L21822 H01L2978 H01L29423 H01L2951 H01L2704
代理机构
北京博浩百睿知识产权代理有限责任公司 11134
代理人
宋子良;方抗美
法律状态
授权
国省代码
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共 50 条
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栅极的形成方法及半导体器件 [P]. 
王文博 .
中国专利 :CN105448688A ,2016-03-30
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形成半导体器件栅极的方法 [P]. 
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[3]
栅极结构、具有栅极结构的半导体器件及形成栅极结构和半导体器件的方法 [P]. 
尹在万 ;
朴东健 ;
李忠浩 ;
吉田诚 ;
李哲 .
中国专利 :CN1658401A ,2005-08-24
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半导体器件及半导体器件的制造方法 [P]. 
外园明 .
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半导体器件的栅极形成方法 [P]. 
张海洋 ;
刘乒 ;
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中国专利 :CN101207026A ,2008-06-25
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半导体器件的栅极形成方法 [P]. 
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魏莹璐 ;
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[7]
半导体器件的栅极形成方法 [P]. 
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半导体器件及其金属栅极的形成方法 [P]. 
林静 ;
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[9]
半导体器件及用于形成栅极结构的方法 [P]. 
B·H·恩格尔 ;
S·M·卢卡里尼 ;
J·D·西尔韦斯特里 ;
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中国专利 :CN1790740B ,2006-06-21
[10]
形成半导体器件的双栅极的方法 [P]. 
金奎显 ;
崔根敏 ;
崔伯一 ;
金东柱 ;
韩智惠 .
中国专利 :CN100505217C ,2007-07-25