一种适用于条状芯片测试的吸盘

被引:0
专利类型
实用新型
申请号
CN201821524889.3
申请日
2018-09-18
公开(公告)号
CN209280750U
公开(公告)日
2019-08-20
发明(设计)人
陈力颖
申请人
申请人地址
300000 天津市西青区西青学府工业区才智道35号海澜德大厦4号楼504室
IPC主分类号
G01R104
IPC分类号
代理机构
成都正象知识产权代理有限公司 51252
代理人
李姗姗
法律状态
授权
国省代码
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共 50 条
[1]
一种适用于条状芯片测试的吸盘 [P]. 
黄宏军 .
中国专利 :CN211318530U ,2020-08-21
[2]
一种适用于条状芯片测试的吸盘 [P]. 
刘盛华 ;
周静 ;
彭大国 ;
徐新宇 .
中国专利 :CN222523666U ,2025-02-25
[3]
一种适用于条状芯片测试的吸盘 [P]. 
朱一标 .
中国专利 :CN207232200U ,2018-04-13
[4]
一种适用于高可靠度芯片测试的吸盘 [P]. 
刘文成 ;
王泰军 ;
叶文治 .
中国专利 :CN213381230U ,2021-06-08
[5]
一种适用于高可靠度芯片测试的吸盘 [P]. 
连晓奎 .
中国专利 :CN215953682U ,2022-03-04
[6]
一种适用于芯片测试的电路 [P]. 
李晓骏 .
中国专利 :CN203800923U ,2014-08-27
[7]
适用于高频测试的芯片测试插座 [P]. 
宋成龙 ;
邱信辉 .
中国专利 :CN214310786U ,2021-09-28
[8]
适用于芯片测试系统的测试平台 [P]. 
余占清 ;
刘佳鹏 ;
曾嵘 ;
陈政宇 ;
任春频 ;
赵彪 .
中国专利 :CN212965280U ,2021-04-13
[9]
适用于高频测试的芯片测试插座 [P]. 
高宗英 ;
周勇华 ;
高凯 ;
殷岚勇 .
中国专利 :CN204302321U ,2015-04-29
[10]
一种适用于芯片的测试装置 [P]. 
高宗英 .
中国专利 :CN205484703U ,2016-08-17