学术探索
学术期刊
学术作者
新闻热点
数据分析
智能评审
一种适用于条状芯片测试的吸盘
被引:0
专利类型
:
实用新型
申请号
:
CN201821524889.3
申请日
:
2018-09-18
公开(公告)号
:
CN209280750U
公开(公告)日
:
2019-08-20
发明(设计)人
:
陈力颖
申请人
:
申请人地址
:
300000 天津市西青区西青学府工业区才智道35号海澜德大厦4号楼504室
IPC主分类号
:
G01R104
IPC分类号
:
代理机构
:
成都正象知识产权代理有限公司 51252
代理人
:
李姗姗
法律状态
:
授权
国省代码
:
引用
下载
收藏
法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2019-08-20
授权
授权
共 50 条
[1]
一种适用于条状芯片测试的吸盘
[P].
黄宏军
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
黄宏军
.
中国专利
:CN211318530U
,2020-08-21
[2]
一种适用于条状芯片测试的吸盘
[P].
刘盛华
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
上海北芯集成电路技术有限公司
上海北芯集成电路技术有限公司
刘盛华
;
周静
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
上海北芯集成电路技术有限公司
上海北芯集成电路技术有限公司
周静
;
彭大国
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
上海北芯集成电路技术有限公司
上海北芯集成电路技术有限公司
彭大国
;
徐新宇
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
上海北芯集成电路技术有限公司
上海北芯集成电路技术有限公司
徐新宇
.
中国专利
:CN222523666U
,2025-02-25
[3]
一种适用于条状芯片测试的吸盘
[P].
朱一标
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
朱一标
.
中国专利
:CN207232200U
,2018-04-13
[4]
一种适用于高可靠度芯片测试的吸盘
[P].
刘文成
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
刘文成
;
王泰军
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
王泰军
;
叶文治
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
叶文治
.
中国专利
:CN213381230U
,2021-06-08
[5]
一种适用于高可靠度芯片测试的吸盘
[P].
连晓奎
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
连晓奎
.
中国专利
:CN215953682U
,2022-03-04
[6]
一种适用于芯片测试的电路
[P].
李晓骏
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
李晓骏
.
中国专利
:CN203800923U
,2014-08-27
[7]
适用于高频测试的芯片测试插座
[P].
宋成龙
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
宋成龙
;
邱信辉
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
邱信辉
.
中国专利
:CN214310786U
,2021-09-28
[8]
适用于芯片测试系统的测试平台
[P].
余占清
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
余占清
;
刘佳鹏
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
刘佳鹏
;
曾嵘
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
曾嵘
;
陈政宇
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
陈政宇
;
任春频
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
任春频
;
赵彪
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
赵彪
.
中国专利
:CN212965280U
,2021-04-13
[9]
适用于高频测试的芯片测试插座
[P].
高宗英
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
高宗英
;
周勇华
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
周勇华
;
高凯
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
高凯
;
殷岚勇
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
殷岚勇
.
中国专利
:CN204302321U
,2015-04-29
[10]
一种适用于芯片的测试装置
[P].
高宗英
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
高宗英
.
中国专利
:CN205484703U
,2016-08-17
←
1
2
3
4
5
→