一种适用于条状芯片测试的吸盘

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN202421064999.1

申请日：

2024-05-15

公开(公告)号：

CN222523666U

公开(公告)日：

2025-02-25

发明(设计)人：

刘盛华周静彭大国徐新宇

申请人：

上海北芯集成电路技术有限公司

申请人地址：

201613 上海市松江区广富林东路199号16幢1层

IPC主分类号：

B65G49/07

IPC分类号：

G01R31/28 G01R1/04

代理机构：

上海塔科专利代理事务所(普通合伙) 31380

代理人：

张小伟

法律状态：

授权

国省代码：

上海市市辖区

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-02-25	授权	授权

共 50 条

[1]

一种适用于条状芯片测试的吸盘 [P].

黄宏军 .

中国专利 :CN211318530U ,2020-08-21

[2]

一种适用于条状芯片测试的吸盘 [P].

朱一标 .

中国专利 :CN207232200U ,2018-04-13

[3]

一种适用于条状芯片测试的吸盘 [P].

陈力颖 .

中国专利 :CN209280750U ,2019-08-20

[4]

一种适用于高可靠度芯片测试的吸盘 [P].

刘文成 ;

王泰军 ;

叶文治 .

中国专利 :CN213381230U ,2021-06-08

[5]

一种适用于高可靠度芯片测试的吸盘 [P].

连晓奎 .

中国专利 :CN215953682U ,2022-03-04

[6]

一种适用于芯片测试的电路 [P].

李晓骏 .

中国专利 :CN203800923U ,2014-08-27

[7]

适用于高频测试的芯片测试插座 [P].

宋成龙 ;

邱信辉 .

中国专利 :CN214310786U ,2021-09-28

[8]

适用于芯片测试系统的测试平台 [P].

余占清 ;

刘佳鹏 ;

曾嵘 ;

陈政宇 ;

任春频 ;

赵彪 .

中国专利 :CN212965280U ,2021-04-13

[9]

适用于高频测试的芯片测试插座 [P].

高宗英 ;

周勇华 ;

高凯 ;

殷岚勇 .

中国专利 :CN204302321U ,2015-04-29

[10]

一种适用于芯片的测试装置 [P].

高宗英 .

中国专利 :CN205484703U ,2016-08-17

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