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一种半导体晶圆安装机台
被引:0
专利类型
:
实用新型
申请号
:
CN201821321194.5
申请日
:
2018-08-16
公开(公告)号
:
CN208570557U
公开(公告)日
:
2019-03-01
发明(设计)人
:
王成
徐晶骥
申请人
:
申请人地址
:
200120 上海市浦东新区自由贸易试验区泰谷路85号六层601-603室
IPC主分类号
:
H01L2167
IPC分类号
:
代理机构
:
代理人
:
法律状态
:
授权
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2019-03-01
授权
授权
共 50 条
[1]
一种半导体晶圆清洗机台
[P].
翟文龙
论文数:
0
引用数:
0
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0
翟文龙
.
中国专利
:CN216297286U
,2022-04-15
[2]
一种晶圆的安装机台
[P].
程有喜
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0
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机构:
合肥晶合集成电路股份有限公司
合肥晶合集成电路股份有限公司
程有喜
;
罗贤福
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机构:
合肥晶合集成电路股份有限公司
合肥晶合集成电路股份有限公司
罗贤福
;
张艳
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0
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机构:
合肥晶合集成电路股份有限公司
合肥晶合集成电路股份有限公司
张艳
.
中国专利
:CN223006738U
,2025-06-20
[3]
半导体晶圆
[P].
M·J·塞登
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0
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0
M·J·塞登
;
野间崇
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野间崇
;
斋藤和弘
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斋藤和弘
.
中国专利
:CN207338360U
,2018-05-08
[4]
一种半导体晶圆包装机构
[P].
王永吉
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机构:
广州恒岩科技有限公司
广州恒岩科技有限公司
王永吉
;
谭星兰
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机构:
广州恒岩科技有限公司
广州恒岩科技有限公司
谭星兰
.
中国专利
:CN223086440U
,2025-07-11
[5]
一种半导体晶圆
[P].
任霄峰
论文数:
0
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任霄峰
;
胥超
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胥超
;
何洪涛
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何洪涛
;
徐永青
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徐永青
.
中国专利
:CN206014408U
,2017-03-15
[6]
一种用于半导体晶圆量测机台的上下料装置
[P].
刘亮
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机构:
上海博纳微电子设备有限公司
上海博纳微电子设备有限公司
刘亮
;
任凯
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机构:
上海博纳微电子设备有限公司
上海博纳微电子设备有限公司
任凯
;
刘娟
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机构:
上海博纳微电子设备有限公司
上海博纳微电子设备有限公司
刘娟
.
中国专利
:CN222300646U
,2025-01-03
[7]
一种半导体晶圆抛光装置
[P].
张志恒
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张志恒
.
中国专利
:CN212977873U
,2021-04-16
[8]
一种半导体晶圆检测工装
[P].
范秀丽
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机构:
罗时桂
罗时桂
范秀丽
;
王春萍
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机构:
罗时桂
罗时桂
王春萍
;
李梦超
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机构:
罗时桂
罗时桂
李梦超
.
中国专利
:CN220774333U
,2024-04-12
[9]
一种半导体晶圆检测装置
[P].
毛业成
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机构:
上海立赫半导体有限公司
上海立赫半导体有限公司
毛业成
;
朱介山
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机构:
上海立赫半导体有限公司
上海立赫半导体有限公司
朱介山
;
刘鹏
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0
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机构:
上海立赫半导体有限公司
上海立赫半导体有限公司
刘鹏
;
吕震宇
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机构:
上海立赫半导体有限公司
上海立赫半导体有限公司
吕震宇
;
朱守贵
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机构:
上海立赫半导体有限公司
上海立赫半导体有限公司
朱守贵
.
中国专利
:CN222379661U
,2025-01-21
[10]
一种半导体晶圆夹持装置
[P].
高锦波
论文数:
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引用数:
0
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机构:
重庆麦柯思硕通信科技有限公司
重庆麦柯思硕通信科技有限公司
高锦波
.
中国专利
:CN221529913U
,2024-08-13
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