半导体装置以及半导体测试设备

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201910131817.5

申请日：

2019-02-22

公开(公告)号：

CN110545093A

公开(公告)日：

2019-12-06

发明(设计)人：

林良彦浪冈真哉李昌恩金成烈高时永柳亨善李长烨郑信基

申请人：

申请人地址：

韩国京畿道

IPC主分类号：

H03K5135

IPC分类号：

G01R3126

代理机构：

北京市立方律师事务所 11330

代理人：

李娜

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2021-05-07	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):H03K 5/135 申请日:20190222
2019-12-06	公开	公开

共 50 条

[1]

半导体装置以及半导体测试设备 [P].

林良彦 ;

浪冈真哉 ;

李昌恩 ;

金成烈 ;

高时永 ;

柳亨善 ;

李长烨 ;

郑信基 .

韩国专利 :CN110545093B ,2025-01-21

[2]

半导体测试设备 [P].

郑照荣 ;

孙振坤 .

中国专利 :CN107799431A ,2018-03-13

[3]

半导体测试设备 [P].

李相骏 ;

李永吉 .

中国专利 :CN103121012A ,2013-05-29

[4]

半导体测试设备 [P].

卢春阳 ;

庄建强 .

中国专利 :CN208705243U ,2019-04-05

[5]

半导体测试设备 [P].

张雷 ;

徐俊 .

中国专利 :CN201673239U ,2010-12-15

[6]

半导体测试设备 [P].

尹侣智 ;

胡思强 ;

梁加林 .

中国专利 :CN117517913A ,2024-02-06

[7]

半导体装置以及测试半导体装置的方法 [P].

神西孝雄 .

中国专利 :CN101032016A ,2007-09-05

[8]

半导体测试板卡、半导体测试设备及测试系统 [P].

袁晓航 ;

杨钊辉 ;

吴炳龙 ;

胡刚 ;

胡松德 .

中国专利 :CN223022311U ,2025-06-24

[9]

半导体测试装置、半导体测试系统以及半导体测试方法 [P].

陈颢 ;

林鸿志 ;

王敏哲 .

中国专利 :CN109425810A ,2019-03-05

[10]

半导体测试座的自动清洁装置及半导体测试设备 [P].

徐永刚 ;

彭瑞 ;

童炜 ;

孙成思 ;

何瀚 ;

王灿 .

中国专利 :CN117483274A ,2024-02-02

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