一种用于锗晶片化学机械抛光的精抛光液和精抛光方法

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申请号
CN202210189299.4
申请日
2022-03-01
公开(公告)号
CN114479674A
公开(公告)日
2022-05-13
发明(设计)人
王元立 贺友华 陈美琳
申请人
申请人地址
101149 北京市通州区工业开发区东二街4号
IPC主分类号
C09G102
IPC分类号
H01L21306
代理机构
代理人
法律状态
实质审查的生效
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共 50 条
[1]
一种用于化学机械抛光的抛光液及化学机械抛光方法 [P]. 
张力飞 ;
王同庆 ;
路新春 .
中国专利 :CN116240550B ,2025-04-15
[2]
化学机械抛光液和抛光方法 [P]. 
许雪峰 ;
彭伟 ;
姚春燕 ;
胡建德 .
中国专利 :CN101870851A ,2010-10-27
[3]
水性抛光液和化学机械抛光方法 [P]. 
加藤知夫 .
中国专利 :CN1939995A ,2007-04-04
[4]
化学机械抛光液及其抛光方法 [P]. 
潘国顺 ;
陈高攀 ;
潘立焱 ;
罗海梅 ;
周艳 ;
罗桂海 ;
张楚红 .
中国专利 :CN115433522A ,2022-12-06
[5]
用于化学机械抛光的抛光液防溅装置和化学机械抛光设备 [P]. 
梁清波 ;
王同庆 .
中国专利 :CN114367920A ,2022-04-19
[6]
化学机械抛光液及其抛光方法 [P]. 
周艳 ;
罗海梅 ;
陈高攀 ;
罗桂海 ;
潘立焱 ;
张楚红 .
中国专利 :CN117511412A ,2024-02-06
[7]
一种用于单晶硅化学机械抛光的抛光液及化学机械抛光方法 [P]. 
陆斯文 ;
夏菁菁 ;
王占山 .
中国专利 :CN117736653A ,2024-03-22
[8]
一种用于钨化学机械抛光的抛光液 [P]. 
王晨 ;
徐春 .
中国专利 :CN102051126A ,2011-05-11
[9]
一种化学机械抛光液及化学机械抛光方法 [P]. 
张力飞 ;
王同庆 ;
路新春 .
中国专利 :CN111732899A ,2020-10-02
[10]
用于抛光半导体晶片的化学机械抛光液 [P]. 
马新胜 ;
黄凯毅 ;
高玮 ;
杨景辉 ;
孔凡滔 .
中国专利 :CN102533123A ,2012-07-04