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一种检测晶圆厚度设备
被引:0
专利类型
:
实用新型
申请号
:
CN202020302645.1
申请日
:
2020-03-12
公开(公告)号
:
CN211783328U
公开(公告)日
:
2020-10-27
发明(设计)人
:
章少华
申请人
:
申请人地址
:
518000 广东省深圳市光明新区玉塘街道田寮社区第六工业区松白路3332号
IPC主分类号
:
G01B1106
IPC分类号
:
代理机构
:
广州市红荔专利代理有限公司 44214
代理人
:
王贤义
法律状态
:
授权
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2020-10-27
授权
授权
共 50 条
[1]
一种晶圆厚度检测设备
[P].
陆敏杰
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陆敏杰
;
吴刘兴
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吴刘兴
.
中国专利
:CN210123275U
,2020-03-03
[2]
一种晶圆厚度检测设备
[P].
李海亮
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李海亮
;
俞辉
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俞辉
;
甘志金
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甘志金
.
中国专利
:CN218156017U
,2022-12-27
[3]
一种晶圆厚度检测设备
[P].
陆敏杰
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陆敏杰
;
吴刘兴
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吴刘兴
.
中国专利
:CN112146580A
,2020-12-29
[4]
一种晶圆厚度检测设备
[P].
曹智
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机构:
西安奕斯伟材料科技股份有限公司
西安奕斯伟材料科技股份有限公司
曹智
.
中国专利
:CN120232334A
,2025-07-01
[5]
一种晶圆检测设备
[P].
王晓东
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王晓东
;
许平康
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许平康
;
刘命江
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刘命江
.
中国专利
:CN208921641U
,2019-05-31
[6]
一种晶圆检测设备
[P].
韦康
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机构:
深圳中科飞测科技股份有限公司
深圳中科飞测科技股份有限公司
韦康
;
胡诗铭
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机构:
深圳中科飞测科技股份有限公司
深圳中科飞测科技股份有限公司
胡诗铭
;
张鹏斌
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机构:
深圳中科飞测科技股份有限公司
深圳中科飞测科技股份有限公司
张鹏斌
;
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机构:
陈鲁
;
张嵩
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机构:
深圳中科飞测科技股份有限公司
深圳中科飞测科技股份有限公司
张嵩
.
中国专利
:CN220553405U
,2024-03-01
[7]
一种晶圆厚度测量设备
[P].
余韦
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机构:
江西兆驰半导体有限公司
江西兆驰半导体有限公司
余韦
;
李晨晨
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机构:
江西兆驰半导体有限公司
江西兆驰半导体有限公司
李晨晨
;
赵晓明
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机构:
江西兆驰半导体有限公司
江西兆驰半导体有限公司
赵晓明
;
董国庆
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江西兆驰半导体有限公司
江西兆驰半导体有限公司
董国庆
;
文国昇
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机构:
江西兆驰半导体有限公司
江西兆驰半导体有限公司
文国昇
;
金从龙
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机构:
江西兆驰半导体有限公司
江西兆驰半导体有限公司
金从龙
.
中国专利
:CN222048965U
,2024-11-22
[8]
一种晶圆切片厚度检测设备
[P].
张娟
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张娟
.
中国专利
:CN112304269A
,2021-02-02
[9]
晶圆检测设备
[P].
王伟
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王伟
;
张淑荣
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张淑荣
.
中国专利
:CN212845981U
,2021-03-30
[10]
一种自动化晶圆厚度检测设备
[P].
施志荣
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施志荣
.
中国专利
:CN214666531U
,2021-11-09
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