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一种晶圆厚度检测设备
被引:0
专利类型
:
发明
申请号
:
CN201910558941.X
申请日
:
2019-06-26
公开(公告)号
:
CN112146580A
公开(公告)日
:
2020-12-29
发明(设计)人
:
陆敏杰
吴刘兴
申请人
:
申请人地址
:
214000 江苏省无锡市新吴区菱湖大道200号中国传感网国际创新园F7-101
IPC主分类号
:
G01B1106
IPC分类号
:
代理机构
:
无锡市朗高知识产权代理有限公司 32262
代理人
:
邱晓琳;赵华
法律状态
:
公开
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2020-12-29
公开
公开
2022-07-12
实质审查的生效
实质审查的生效 IPC(主分类):G01B 11/06 申请日:20190626
共 50 条
[1]
一种晶圆厚度检测设备
[P].
陆敏杰
论文数:
0
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0
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0
陆敏杰
;
吴刘兴
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0
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0
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0
吴刘兴
.
中国专利
:CN210123275U
,2020-03-03
[2]
一种检测晶圆厚度设备
[P].
章少华
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0
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0
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0
章少华
.
中国专利
:CN211783328U
,2020-10-27
[3]
一种晶圆切片厚度检测设备
[P].
张娟
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0
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0
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0
张娟
.
中国专利
:CN112304269A
,2021-02-02
[4]
一种晶圆厚度检测设备
[P].
李海亮
论文数:
0
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0
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0
李海亮
;
俞辉
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0
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0
俞辉
;
甘志金
论文数:
0
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0
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0
甘志金
.
中国专利
:CN218156017U
,2022-12-27
[5]
一种晶圆厚度检测设备
[P].
曹智
论文数:
0
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0
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0
机构:
西安奕斯伟材料科技股份有限公司
西安奕斯伟材料科技股份有限公司
曹智
.
中国专利
:CN120232334A
,2025-07-01
[6]
一种晶圆厚度检测用红外检测设备
[P].
贾怀宇
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0
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机构:
北京三禾泰达技术有限公司
北京三禾泰达技术有限公司
贾怀宇
;
吴兴梅
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机构:
北京三禾泰达技术有限公司
北京三禾泰达技术有限公司
吴兴梅
;
司建立
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机构:
北京三禾泰达技术有限公司
北京三禾泰达技术有限公司
司建立
;
王超
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机构:
北京三禾泰达技术有限公司
北京三禾泰达技术有限公司
王超
;
辛宝川
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机构:
北京三禾泰达技术有限公司
北京三禾泰达技术有限公司
辛宝川
.
中国专利
:CN119240332B
,2025-03-04
[7]
一种晶圆厚度检测用红外检测设备
[P].
贾怀宇
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机构:
北京三禾泰达技术有限公司
北京三禾泰达技术有限公司
贾怀宇
;
吴兴梅
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机构:
北京三禾泰达技术有限公司
北京三禾泰达技术有限公司
吴兴梅
;
司建立
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机构:
北京三禾泰达技术有限公司
北京三禾泰达技术有限公司
司建立
;
王超
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机构:
北京三禾泰达技术有限公司
北京三禾泰达技术有限公司
王超
;
辛宝川
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机构:
北京三禾泰达技术有限公司
北京三禾泰达技术有限公司
辛宝川
.
中国专利
:CN119240332A
,2025-01-03
[8]
一种晶硅板材厚度检测设备
[P].
叶超
论文数:
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机构:
常州奥瑞克精密测量系统有限公司
常州奥瑞克精密测量系统有限公司
叶超
;
李军
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机构:
常州奥瑞克精密测量系统有限公司
常州奥瑞克精密测量系统有限公司
李军
;
丁伟
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机构:
常州奥瑞克精密测量系统有限公司
常州奥瑞克精密测量系统有限公司
丁伟
;
杨飞
论文数:
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0
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机构:
常州奥瑞克精密测量系统有限公司
常州奥瑞克精密测量系统有限公司
杨飞
.
中国专利
:CN223192329U
,2025-08-05
[9]
一种晶圆厚度检测系统
[P].
林锦彬
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林锦彬
;
张家政
论文数:
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张家政
.
中国专利
:CN217465751U
,2022-09-20
[10]
一种晶圆厚度检测装置
[P].
潘鸿举
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机构:
安徽佰亿微电子技术有限公司
安徽佰亿微电子技术有限公司
潘鸿举
;
徐济长
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机构:
安徽佰亿微电子技术有限公司
安徽佰亿微电子技术有限公司
徐济长
;
张黎斌
论文数:
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机构:
安徽佰亿微电子技术有限公司
安徽佰亿微电子技术有限公司
张黎斌
.
中国专利
:CN221549648U
,2024-08-16
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