学术探索
学术期刊
学术作者
新闻热点
数据分析
智能评审
一种晶圆厚度检测设备
被引:0
申请号
:
CN202222540111.4
申请日
:
2022-09-26
公开(公告)号
:
CN218156017U
公开(公告)日
:
2022-12-27
发明(设计)人
:
李海亮
俞辉
甘志金
申请人
:
申请人地址
:
244000 安徽省铜陵市义安区南海路
IPC主分类号
:
G01B1106
IPC分类号
:
代理机构
:
铜陵市天成专利事务所(普通合伙) 34105
代理人
:
李坤
法律状态
:
授权
国省代码
:
引用
下载
收藏
法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2022-12-27
授权
授权
共 50 条
[1]
一种晶圆厚度检测设备
[P].
陆敏杰
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
陆敏杰
;
吴刘兴
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
吴刘兴
.
中国专利
:CN210123275U
,2020-03-03
[2]
一种检测晶圆厚度设备
[P].
章少华
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
章少华
.
中国专利
:CN211783328U
,2020-10-27
[3]
一种自动化晶圆厚度检测设备
[P].
施志荣
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
施志荣
.
中国专利
:CN214666531U
,2021-11-09
[4]
一种晶圆厚度检测设备
[P].
陆敏杰
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
陆敏杰
;
吴刘兴
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
吴刘兴
.
中国专利
:CN112146580A
,2020-12-29
[5]
一种晶圆厚度检测设备
[P].
曹智
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
西安奕斯伟材料科技股份有限公司
西安奕斯伟材料科技股份有限公司
曹智
.
中国专利
:CN120232334A
,2025-07-01
[6]
一种晶圆厚度检测用红外检测设备
[P].
贾怀宇
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
北京三禾泰达技术有限公司
北京三禾泰达技术有限公司
贾怀宇
;
吴兴梅
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
北京三禾泰达技术有限公司
北京三禾泰达技术有限公司
吴兴梅
;
司建立
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
北京三禾泰达技术有限公司
北京三禾泰达技术有限公司
司建立
;
王超
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
北京三禾泰达技术有限公司
北京三禾泰达技术有限公司
王超
;
辛宝川
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
北京三禾泰达技术有限公司
北京三禾泰达技术有限公司
辛宝川
.
中国专利
:CN119240332B
,2025-03-04
[7]
一种晶圆厚度检测用红外检测设备
[P].
贾怀宇
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
北京三禾泰达技术有限公司
北京三禾泰达技术有限公司
贾怀宇
;
吴兴梅
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
北京三禾泰达技术有限公司
北京三禾泰达技术有限公司
吴兴梅
;
司建立
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
北京三禾泰达技术有限公司
北京三禾泰达技术有限公司
司建立
;
王超
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
北京三禾泰达技术有限公司
北京三禾泰达技术有限公司
王超
;
辛宝川
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
北京三禾泰达技术有限公司
北京三禾泰达技术有限公司
辛宝川
.
中国专利
:CN119240332A
,2025-01-03
[8]
一种晶圆厚度检测装置
[P].
潘鸿举
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
安徽佰亿微电子技术有限公司
安徽佰亿微电子技术有限公司
潘鸿举
;
徐济长
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
安徽佰亿微电子技术有限公司
安徽佰亿微电子技术有限公司
徐济长
;
张黎斌
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
安徽佰亿微电子技术有限公司
安徽佰亿微电子技术有限公司
张黎斌
.
中国专利
:CN221549648U
,2024-08-16
[9]
一种晶圆检测设备
[P].
吴坤
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
深圳市琢光半导体装备技术有限公司
深圳市琢光半导体装备技术有限公司
吴坤
;
王志铭
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
深圳市琢光半导体装备技术有限公司
深圳市琢光半导体装备技术有限公司
王志铭
.
中国专利
:CN221078431U
,2024-06-04
[10]
一种晶圆表面检测装置及其晶圆检测设备
[P].
吴坤
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
深圳市琢光半导体装备技术有限公司
深圳市琢光半导体装备技术有限公司
吴坤
;
黄勇新
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
深圳市琢光半导体装备技术有限公司
深圳市琢光半导体装备技术有限公司
黄勇新
.
中国专利
:CN221078509U
,2024-06-04
←
1
2
3
4
5
→