一种晶圆厚度检测系统

被引:0
申请号
CN202221003077.0
申请日
2022-04-28
公开(公告)号
CN217465751U
公开(公告)日
2022-09-20
发明(设计)人
林锦彬 张家政
申请人
申请人地址
361000 福建省厦门市火炬高新区(翔安)产业区同龙二路942号561
IPC主分类号
G01B2108
IPC分类号
代理机构
代理人
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共 50 条
[1]
一种半导体晶圆厚度检测系统 [P]. 
陈坚 ;
吴周令 .
中国专利 :CN202511762U ,2012-10-31
[2]
一种用于晶圆厚度的检测装置 [P]. 
贾怀宇 .
中国专利 :CN217900801U ,2022-11-25
[3]
一种半导体晶圆厚度检测系统及其检测方法 [P]. 
陈坚 ;
吴周令 .
中国专利 :CN102620666A ,2012-08-01
[4]
一种晶圆厚度检测设备 [P]. 
陆敏杰 ;
吴刘兴 .
中国专利 :CN210123275U ,2020-03-03
[5]
一种晶圆厚度检测装置 [P]. 
潘鸿举 ;
徐济长 ;
张黎斌 .
中国专利 :CN221549648U ,2024-08-16
[6]
一种用于大尺寸晶圆厚度检测平台 [P]. 
陆敏杰 ;
姜燕燕 .
中国专利 :CN210486802U ,2020-05-08
[7]
一种晶圆厚度检测设备 [P]. 
李海亮 ;
俞辉 ;
甘志金 .
中国专利 :CN218156017U ,2022-12-27
[8]
一种检测晶圆厚度设备 [P]. 
章少华 .
中国专利 :CN211783328U ,2020-10-27
[9]
一种晶圆厚度检测设备 [P]. 
陆敏杰 ;
吴刘兴 .
中国专利 :CN112146580A ,2020-12-29
[10]
一种半导体晶圆厚度检测平台 [P]. 
王燕平 ;
秦志强 ;
刘锋 .
中国专利 :CN216348483U ,2022-04-19