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一种晶圆厚度检测系统
被引:0
申请号
:
CN202221003077.0
申请日
:
2022-04-28
公开(公告)号
:
CN217465751U
公开(公告)日
:
2022-09-20
发明(设计)人
:
林锦彬
张家政
申请人
:
申请人地址
:
361000 福建省厦门市火炬高新区(翔安)产业区同龙二路942号561
IPC主分类号
:
G01B2108
IPC分类号
:
代理机构
:
代理人
:
法律状态
:
授权
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2022-09-20
授权
授权
共 50 条
[1]
一种半导体晶圆厚度检测系统
[P].
陈坚
论文数:
0
引用数:
0
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0
陈坚
;
吴周令
论文数:
0
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0
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0
吴周令
.
中国专利
:CN202511762U
,2012-10-31
[2]
一种用于晶圆厚度的检测装置
[P].
贾怀宇
论文数:
0
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0
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0
贾怀宇
.
中国专利
:CN217900801U
,2022-11-25
[3]
一种半导体晶圆厚度检测系统及其检测方法
[P].
陈坚
论文数:
0
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0
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0
陈坚
;
吴周令
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吴周令
.
中国专利
:CN102620666A
,2012-08-01
[4]
一种晶圆厚度检测设备
[P].
陆敏杰
论文数:
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陆敏杰
;
吴刘兴
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吴刘兴
.
中国专利
:CN210123275U
,2020-03-03
[5]
一种晶圆厚度检测装置
[P].
潘鸿举
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机构:
安徽佰亿微电子技术有限公司
安徽佰亿微电子技术有限公司
潘鸿举
;
徐济长
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机构:
安徽佰亿微电子技术有限公司
安徽佰亿微电子技术有限公司
徐济长
;
张黎斌
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0
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机构:
安徽佰亿微电子技术有限公司
安徽佰亿微电子技术有限公司
张黎斌
.
中国专利
:CN221549648U
,2024-08-16
[6]
一种用于大尺寸晶圆厚度检测平台
[P].
陆敏杰
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陆敏杰
;
姜燕燕
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姜燕燕
.
中国专利
:CN210486802U
,2020-05-08
[7]
一种晶圆厚度检测设备
[P].
李海亮
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李海亮
;
俞辉
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俞辉
;
甘志金
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甘志金
.
中国专利
:CN218156017U
,2022-12-27
[8]
一种检测晶圆厚度设备
[P].
章少华
论文数:
0
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0
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章少华
.
中国专利
:CN211783328U
,2020-10-27
[9]
一种晶圆厚度检测设备
[P].
陆敏杰
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陆敏杰
;
吴刘兴
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吴刘兴
.
中国专利
:CN112146580A
,2020-12-29
[10]
一种半导体晶圆厚度检测平台
[P].
王燕平
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王燕平
;
秦志强
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秦志强
;
刘锋
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刘锋
.
中国专利
:CN216348483U
,2022-04-19
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