视觉检测模组、缺陷检测工作站及缺陷检测方法

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN202110295090.1
申请日
2021-03-19
公开(公告)号
CN113466235A
公开(公告)日
2021-10-01
发明(设计)人
朱晓春 潘扬敬 帅耀珠
申请人
申请人地址
215324 江苏省昆山市锦溪镇昆开路486号
IPC主分类号
G01N2188
IPC分类号
代理机构
北京国昊天诚知识产权代理有限公司 11315
代理人
李有财
法律状态
实质审查的生效
国省代码
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共 50 条
[1]
缺陷检测方法 [P]. 
朱晓春 ;
潘扬敬 ;
帅耀珠 .
中国专利 :CN118209556A ,2024-06-18
[2]
基于少量缺陷样本的工业缺陷检测方法 [P]. 
都卫东 ;
吴健雄 ;
邱夏青 .
中国专利 :CN114897865A ,2022-08-12
[3]
缺陷检测方法、缺陷检测系统和缺陷检测程序 [P]. 
辻本翔悟 .
日本专利 :CN118202383A ,2024-06-14
[4]
缺陷检测装置、缺陷检测系统及缺陷检测方法 [P]. 
梅红伟 ;
涂彦昕 ;
胡伟 ;
刘健犇 ;
刘立帅 ;
王黎明 .
中国专利 :CN110031511B ,2019-07-19
[5]
缺陷检测装置、缺陷检测系统及缺陷检测方法 [P]. 
张勤 ;
付翔宇 ;
李国军 .
中国专利 :CN117949458A ,2024-04-30
[6]
缺陷检测模型确定方法及装置、缺陷检测方法和存储介质 [P]. 
陈鲁 ;
肖安七 ;
张嵩 .
中国专利 :CN119228708A ,2024-12-31
[7]
缺陷检测方法及缺陷检测系统 [P]. 
孟阳 ;
王伟斌 .
中国专利 :CN112444526A ,2021-03-05
[8]
缺陷检测方法及缺陷检测设备 [P]. 
习征东 ;
李圭铉 ;
刘超强 ;
王建宏 ;
王金顺 .
中国专利 :CN108387587A ,2018-08-10
[9]
缺陷检测系统及缺陷检测方法 [P]. 
中野拓巳 .
中国专利 :CN103635169A ,2014-03-12
[10]
缺陷检测装置及缺陷检测方法 [P]. 
久利龙平 .
中国专利 :CN111323423A ,2020-06-23