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一种测量大口径平面光学元件表面平均高反射率的方法
被引:0
专利类型
:
发明
申请号
:
CN202111284616.2
申请日
:
2021-11-01
公开(公告)号
:
CN113984349A
公开(公告)日
:
2022-01-28
发明(设计)人
:
何星
田中州
王帅
赖柏衡
赵旺
杨平
申请人
:
申请人地址
:
610209 四川省成都市双流350信箱
IPC主分类号
:
G01M1102
IPC分类号
:
代理机构
:
北京科迪生专利代理有限责任公司 11251
代理人
:
江亚平
法律状态
:
公开
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2022-01-28
公开
公开
2022-02-18
实质审查的生效
实质审查的生效 IPC(主分类):G01M 11/02 申请日:20211101
共 50 条
[1]
大口径光学元件反射率测量系统
[P].
高磊
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高磊
;
龙宇
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龙宇
;
彭琛
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彭琛
;
朱涛
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朱涛
.
中国专利
:CN114486201A
,2022-05-13
[2]
大口径光学元件透射率和反射率的测量装置和测量方法
[P].
张春香
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张春香
;
朱宝强
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朱宝强
;
唐顺兴
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唐顺兴
;
缪洁
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缪洁
;
高妍琦
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高妍琦
;
惠宏超
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惠宏超
;
郭亚晶
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郭亚晶
.
中国专利
:CN102062678A
,2011-05-18
[3]
大口径反射光学元件高反射率扫描测量多波长集成方法
[P].
李斌成
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李斌成
;
曲哲超
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曲哲超
.
中国专利
:CN102721529A
,2012-10-10
[4]
大口径平面光学元件的夹具和装夹方法
[P].
邵平
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邵平
;
居玲洁
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居玲洁
;
赵东峰
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赵东峰
;
汤更秀
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汤更秀
;
乔战峰
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乔战峰
.
中国专利
:CN102615567B
,2012-08-01
[5]
一种大口径平面光学元件抛光装置
[P].
杨炜
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杨炜
;
郭隐彪
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郭隐彪
;
潘日
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潘日
;
张东旭
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张东旭
.
中国专利
:CN102528607B
,2012-07-04
[6]
大口径平面光学元件在位面形拼接测量装置及方法
[P].
段亚轩
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段亚轩
;
达争尚
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达争尚
;
陈晓义
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陈晓义
;
袁索超
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袁索超
;
范尧
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范尧
;
李铭
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李铭
;
王璞
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王璞
.
中国专利
:CN112577446B
,2021-03-30
[7]
一种大口径平面光学元件面形绝对测量系统
[P].
朱小平
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朱小平
;
李加福
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李加福
;
杜华
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杜华
;
王凯
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王凯
;
赵沫
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赵沫
;
赵彦龙
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赵彦龙
.
中国专利
:CN112815871A
,2021-05-18
[8]
一种大口径平面光学元件自动调平方法
[P].
刘东
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刘东
;
孙焕宇
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孙焕宇
;
王狮凌
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王狮凌
;
王悦
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王悦
;
黄进
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黄进
;
周晓燕
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周晓燕
.
中国专利
:CN111257231A
,2020-06-09
[9]
一种基于机械臂的大口径平面光学元件表面缺陷扫描方法
[P].
刘东
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机构:
浙江大学
浙江大学
刘东
;
吕雄涛
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机构:
浙江大学
浙江大学
吕雄涛
;
郭世维
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机构:
浙江大学
浙江大学
郭世维
;
王狮凌
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浙江大学
浙江大学
王狮凌
;
张峰玮
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浙江大学
浙江大学
张峰玮
;
王旭龙琦
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浙江大学
浙江大学
王旭龙琦
;
金秉文
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机构:
浙江大学
浙江大学
金秉文
.
中国专利
:CN116879166B
,2025-09-19
[10]
大口径平面光学元件的面形检测装置和方法
[P].
范勇
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范勇
;
陈念年
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陈念年
;
张劲峰
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张劲峰
;
杨程
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杨程
.
中国专利
:CN101476880B
,2009-07-08
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