大口径光学元件反射率测量系统

被引：0

申请号：

CN202210128072.9

申请日：

2022-02-11

公开(公告)号：

CN114486201A

公开(公告)日：

2022-05-13

发明(设计)人：

高磊龙宇彭琛朱涛

申请人：

申请人地址：

400030 重庆市沙坪坝区沙正街174号

IPC主分类号：

G01M1102

IPC分类号：

G01N2155

代理机构：

重庆双马智翔专利代理事务所(普通合伙) 50241

代理人：

顾晓玲

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2022-05-13	公开	公开
2022-05-31	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G01M 11/02 申请日:20220211

共 50 条

[1]

大口径反射光学元件高反射率扫描测量多波长集成方法 [P].

李斌成 ;

曲哲超 .

中国专利 :CN102721529A ,2012-10-10

[2]

大口径光学元件透射率和反射率的测量装置和测量方法 [P].

张春香 ;

朱宝强 ;

唐顺兴 ;

缪洁 ;

高妍琦 ;

惠宏超 ;

郭亚晶 .

中国专利 :CN102062678A ,2011-05-18

[3]

光学元件反射率测量仪 [P].

侯睿媛 ;

陆寅 ;

张帅楠 ;

戴晨 ;

权琨琪 ;

刘仁明 ;

陈贵宾 ;

卜阳 .

中国专利 :CN209167118U ,2019-07-26

[4]

一种测量大口径平面光学元件表面平均高反射率的方法 [P].

何星 ;

田中州 ;

王帅 ;

赖柏衡 ;

赵旺 ;

杨平 .

中国专利 :CN113984349A ,2022-01-28

[5]

大口径光学元件真空抓取系统 [P].

裴国庆 ;

独伟峰 ;

徐旭 ;

袁晓东 ;

叶朗 ;

韩萌萌 ;

熊召 ;

严寒 ;

李珂 .

中国专利 :CN105798939A ,2016-07-27

[6]

大口径光学元件清洗装置及大口径光学元件的清洗方法 [P].

王震 ;

许乔 ;

卫耀伟 ;

王健 ;

李树刚 ;

刘民才 ;

张飞 ;

唐明 ;

吴倩 ;

罗晋 ;

罗振飞 ;

周永勤 ;

程建国 ;

白友民 .

中国专利 :CN111330877A ,2020-06-26

[7]

光学元件高反射率测量系统和测量方法 [P].

邵建达 ;

刘世杰 ;

王圣浩 .

中国专利 :CN109100330A ,2018-12-28

[8]

大口径平板元件剩余透反射率及不均匀性测量装置 [P].

高波 ;

刘昂 ;

万道明 ;

徐凯源 ;

何宇航 ;

魏小红 ;

陈宁 ;

石振东 ;

王凤蕊 ;

李强 .

中国专利 :CN117490979B ,2025-07-11

[9]

大口径平板元件剩余透反射率及不均匀性测量装置 [P].

高波 ;

刘昂 ;

万道明 ;

徐凯源 ;

何宇航 ;

魏小红 ;

陈宁 ;

石振东 ;

王凤蕊 ;

李强 .

中国专利 :CN117490979A ,2024-02-02

[10]

一种基于大尺寸激光束和面阵探测的大口径反射光学元件反射率均匀性测量方法 [P].

王静 ;

韩艳玲 ;

李斌成 .

中国专利 :CN115585989A ,2023-01-10

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