大口径反射光学元件高反射率扫描测量多波长集成方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201210172475.X

申请日：

2012-05-27

公开(公告)号：

CN102721529A

公开(公告)日：

2012-10-10

发明(设计)人：

李斌成曲哲超

申请人：

申请人地址：

610209 四川省成都市双流350信箱

IPC主分类号：

G01M1102

IPC分类号：

G01M1104

代理机构：

北京科迪生专利代理有限责任公司 11251

代理人：

成金玉

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2012-12-05	实质审查的生效	实质审查的生效号牌文件类型代码:1604 号牌文件序号:101359123086 IPC(主分类):G01M 11/02 专利申请号:201210172475X 申请日:20120527
2012-10-10	公开	公开
2015-06-17	授权	授权

共 50 条

[1]

大口径光学元件反射率测量系统 [P].

高磊 ;

龙宇 ;

彭琛 ;

朱涛 .

中国专利 :CN114486201A ,2022-05-13

[2]

一种基于大尺寸激光束和面阵探测的大口径反射光学元件反射率均匀性测量方法 [P].

王静 ;

韩艳玲 ;

李斌成 .

中国专利 :CN115585989A ,2023-01-10

[3]

一种测量大口径平面光学元件表面平均高反射率的方法 [P].

何星 ;

田中州 ;

王帅 ;

赖柏衡 ;

赵旺 ;

杨平 .

中国专利 :CN113984349A ,2022-01-28

[4]

大口径光学元件透射率和反射率的测量装置和测量方法 [P].

张春香 ;

朱宝强 ;

唐顺兴 ;

缪洁 ;

高妍琦 ;

惠宏超 ;

郭亚晶 .

中国专利 :CN102062678A ,2011-05-18

[5]

双波长高反射镜反射率测量方法 [P].

李斌成 ;

曲哲超 ;

韩艳玲 .

中国专利 :CN102128715B ,2011-07-20

[6]

一种高反射光学元件反射率分布高分辨成像测量的方法 [P].

李斌成 ;

王静 .

中国专利 :CN111141707A ,2020-05-12

[7]

光学元件高反射率测量系统和测量方法 [P].

邵建达 ;

刘世杰 ;

王圣浩 .

中国专利 :CN109100330A ,2018-12-28

[8]

大口径平板元件剩余透反射率及不均匀性测量装置 [P].

高波 ;

刘昂 ;

万道明 ;

徐凯源 ;

何宇航 ;

魏小红 ;

陈宁 ;

石振东 ;

王凤蕊 ;

李强 .

中国专利 :CN117490979B ,2025-07-11

[9]

大口径平板元件剩余透反射率及不均匀性测量装置 [P].

高波 ;

刘昂 ;

万道明 ;

徐凯源 ;

何宇航 ;

魏小红 ;

陈宁 ;

石振东 ;

王凤蕊 ;

李强 .

中国专利 :CN117490979A ,2024-02-02

[10]

光学元件反射率测量仪 [P].

侯睿媛 ;

陆寅 ;

张帅楠 ;

戴晨 ;

权琨琪 ;

刘仁明 ;

陈贵宾 ;

卜阳 .

中国专利 :CN209167118U ,2019-07-26

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