大口径平板元件剩余透反射率及不均匀性测量装置

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202311214812.1

申请日：

2023-09-19

公开(公告)号：

CN117490979B

公开(公告)日：

2025-07-11

发明(设计)人：

高波刘昂万道明徐凯源何宇航魏小红陈宁石振东王凤蕊李强

申请人：

中国工程物理研究院激光聚变研究中心

申请人地址：

621900 四川省绵阳市游仙区绵山路64号

IPC主分类号：

G01M11/02

IPC分类号：

代理机构：

成都弘毅天承知识产权代理有限公司 51230

代理人：

谢建

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2024-02-02	公开	公开
2025-07-11	授权	授权
2024-02-23	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G01M 11/02申请日:20230919

共 50 条

[1]

大口径平板元件剩余透反射率及不均匀性测量装置 [P].

高波 ;

刘昂 ;

万道明 ;

徐凯源 ;

何宇航 ;

魏小红 ;

陈宁 ;

石振东 ;

王凤蕊 ;

李强 .

中国专利 :CN117490979A ,2024-02-02

[2]

大口径光学元件反射率测量系统 [P].

高磊 ;

龙宇 ;

彭琛 ;

朱涛 .

中国专利 :CN114486201A ,2022-05-13

[3]

大口径反射光学元件高反射率扫描测量多波长集成方法 [P].

李斌成 ;

曲哲超 .

中国专利 :CN102721529A ,2012-10-10

[4]

大口径光学元件透射率和反射率的测量装置和测量方法 [P].

张春香 ;

朱宝强 ;

唐顺兴 ;

缪洁 ;

高妍琦 ;

惠宏超 ;

郭亚晶 .

中国专利 :CN102062678A ,2011-05-18

[5]

大口径单轴晶体折射率均匀性测量装置 [P].

段亚轩 ;

陈永权 ;

赵怀学 ;

李坤 ;

田留德 ;

赵建科 ;

薛勋 ;

刘尚阔 ;

潘亮 ;

聂申 ;

昌明 ;

张洁 ;

胡丹丹 .

中国专利 :CN204855372U ,2015-12-09

[6]

大口径单轴晶体折射率均匀性测量装置及方法 [P].

段亚轩 ;

陈永权 ;

赵怀学 ;

李坤 ;

田留德 ;

赵建科 ;

薛勋 ;

刘尚阔 ;

潘亮 ;

聂申 ;

昌明 ;

张洁 ;

胡丹丹 .

中国专利 :CN105158209A ,2015-12-16

[7]

一种基于大尺寸激光束和面阵探测的大口径反射光学元件反射率均匀性测量方法 [P].

王静 ;

韩艳玲 ;

李斌成 .

中国专利 :CN115585989A ,2023-01-10

[8]

燃油总管不均匀性测量装置 [P].

刘娇 ;

裴镜心 .

中国专利 :CN212340348U ,2021-01-12

[9]

一种测量大口径平面光学元件表面平均高反射率的方法 [P].

何星 ;

田中州 ;

王帅 ;

赖柏衡 ;

赵旺 ;

杨平 .

中国专利 :CN113984349A ,2022-01-28

[10]

大口径光学元件清洗装置及大口径光学元件的清洗方法 [P].

王震 ;

许乔 ;

卫耀伟 ;

王健 ;

李树刚 ;

刘民才 ;

张飞 ;

唐明 ;

吴倩 ;

罗晋 ;

罗振飞 ;

周永勤 ;

程建国 ;

白友民 .

中国专利 :CN111330877A ,2020-06-26

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