存储芯片测试机

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专利类型
发明
申请号
CN201410047830.X
申请日
2014-02-11
公开(公告)号
CN103886917A
公开(公告)日
2014-06-25
发明(设计)人
缪家戌
申请人
申请人地址
610000 四川省成都市锦江区上东大街139号1幢3层4号
IPC主分类号
G11C2956
IPC分类号
代理机构
代理人
法律状态
公开
国省代码
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共 50 条
[1]
存储器芯片测试机 [P]. 
陈石矶 .
中国专利 :CN203038674U ,2013-07-03
[2]
一种存储芯片高效测试机 [P]. 
吴肖 ;
李文俊 ;
王锋 ;
周文平 ;
王亮 .
中国专利 :CN221746874U ,2024-09-20
[3]
一种存储芯片测试机液冷系统 [P]. 
吴克明 ;
郑兴全 ;
徐茂强 .
中国专利 :CN221863376U ,2024-10-18
[4]
DDRSDRAM存储芯片多功能自动测试机 [P]. 
龙满珍 ;
何昭圣 .
中国专利 :CN115249511B ,2024-06-04
[5]
存储芯片测试平台 [P]. 
张悦 ;
邱磊 .
中国专利 :CN306686914S ,2021-07-16
[6]
存储芯片测试平台 [P]. 
张悦 .
中国专利 :CN306686861S ,2021-07-16
[7]
一种存储芯片测试机构 [P]. 
陈伟 .
:CN221174743U ,2024-06-18
[8]
存储芯片测试组件及存储芯片测试系统 [P]. 
孙成思 ;
孙日欣 ;
刘小刚 ;
王万军 .
中国专利 :CN214428332U ,2021-10-19
[9]
闪存存储芯片测试设备 [P]. 
王玉伟 ;
邹小玲 ;
孙丹归 ;
郑双桥 .
中国专利 :CN223155674U ,2025-07-25
[10]
存储芯片测试电路装置 [P]. 
杨正杰 .
中国专利 :CN208589269U ,2019-03-08