一种存储芯片测试机液冷系统

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN202420202778.X

申请日：

2024-01-29

公开(公告)号：

CN221863376U

公开(公告)日：

2024-10-18

发明(设计)人：

吴克明郑兴全徐茂强

申请人：

悦芯科技股份有限公司

申请人地址：

230000 安徽省合肥市经济技术开发区宿松路3963号智能装备科技园D1栋东侧2层

IPC主分类号：

H05K7/20

IPC分类号：

代理机构：

北京腾远知识产权代理事务所(普通合伙) 11608

代理人：

梁国海

法律状态：

授权

国省代码：

安徽省宣城市

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2024-10-18	授权	授权

共 50 条

[1]

存储芯片测试机 [P].

缪家戌 .

中国专利 :CN103886917A ,2014-06-25

[2]

一种存储芯片高效测试机 [P].

吴肖 ;

李文俊 ;

王锋 ;

周文平 ;

王亮 .

中国专利 :CN221746874U ,2024-09-20

[3]

一种存储芯片测试机构 [P].

陈伟 .

:CN221174743U ,2024-06-18

[4]

存储芯片测试组件及存储芯片测试系统 [P].

孙成思 ;

孙日欣 ;

刘小刚 ;

王万军 .

中国专利 :CN214428332U ,2021-10-19

[5]

一种多通道存储芯片功耗分析测试机 [P].

王智慧 .

中国专利 :CN222260532U ,2024-12-27

[6]

一种存储芯片系统级测试机自动温控系统 [P].

林远飞 ;

张海波 ;

胡湘礼 ;

盖希林 .

中国专利 :CN117789809A ,2024-03-29

[7]

存储芯片测试装置和存储芯片测试系统 [P].

孙文琪 .

中国专利 :CN222337932U ,2025-01-10

[8]

DDRSDRAM存储芯片多功能自动测试机 [P].

龙满珍 ;

何昭圣 .

中国专利 :CN115249511B ,2024-06-04

[9]

存储芯片整合测试系统 [P].

张洪利 ;

郑程玮 .

中国专利 :CN120727076A ,2025-09-30

[10]

一种用于存储芯片CP测试机的监测控制系统 [P].

薛如军 ;

宋秀良 .

中国专利 :CN117290189B ,2024-02-06

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