一种存储芯片系统级测试机自动温控系统

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202311817695.8

申请日：

2023-12-26

公开(公告)号：

CN117789809A

公开(公告)日：

2024-03-29

发明(设计)人：

林远飞张海波胡湘礼盖希林

申请人：

沛顿科技（深圳）有限公司

申请人地址：

518035 广东省深圳市福田区彩田路7006号

IPC主分类号：

G11C29/50

IPC分类号：

G11C7/04 G06F11/30

代理机构：

广东普润知识产权代理有限公司 44804

代理人：

欧志明

法律状态：

公开

国省代码：

广东省深圳市

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2024-03-29	公开	公开
2024-04-16	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G11C 29/50申请日:20231226

共 50 条

[1]

存储芯片测试机 [P].

缪家戌 .

中国专利 :CN103886917A ,2014-06-25

[2]

一种存储芯片的测试系统 [P].

谢杰志 .

中国专利 :CN221427378U ,2024-07-26

[3]

一种存储芯片测试机液冷系统 [P].

吴克明 ;

郑兴全 ;

徐茂强 .

中国专利 :CN221863376U ,2024-10-18

[4]

存储芯片测试组件及存储芯片测试系统 [P].

孙成思 ;

孙日欣 ;

刘小刚 ;

王万军 .

中国专利 :CN214428332U ,2021-10-19

[5]

一种存储芯片测试电路装置以及系统 [P].

不公告发明人 .

中国专利 :CN208848622U ,2019-05-10

[6]

一种存储芯片高效测试机 [P].

吴肖 ;

李文俊 ;

王锋 ;

周文平 ;

王亮 .

中国专利 :CN221746874U ,2024-09-20

[7]

一种存储芯片测试机构 [P].

陈伟 .

:CN221174743U ,2024-06-18

[8]

存储芯片测试装置和存储芯片测试系统 [P].

孙文琪 .

中国专利 :CN222337932U ,2025-01-10

[9]

存储芯片整合测试系统 [P].

张洪利 ;

郑程玮 .

中国专利 :CN120727076A ,2025-09-30

[10]

一种自动化存储芯片测试机台 [P].

杨密凯 .

中国专利 :CN218241317U ,2023-01-06

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