一种多通道存储芯片功耗分析测试机

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN202421174237.7

申请日：

2024-05-28

公开(公告)号：

CN222260532U

公开(公告)日：

2024-12-27

发明(设计)人：

王智慧

申请人：

南京芯测电子科技有限公司

申请人地址：

210000 江苏省南京市自由贸易试验区南京片区团结路99号孵鹰大厦2802室

IPC主分类号：

G11C29/56

IPC分类号：

代理机构：

合肥盈创实信专利代理事务所(普通合伙) 34328

代理人：

卢旺

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2024-12-27	授权	授权

共 50 条

[1]

存储芯片测试机 [P].

缪家戌 .

中国专利 :CN103886917A ,2014-06-25

[2]

一种存储芯片高效测试机 [P].

吴肖 ;

李文俊 ;

王锋 ;

周文平 ;

王亮 .

中国专利 :CN221746874U ,2024-09-20

[3]

一种存储芯片测试机构 [P].

陈伟 .

:CN221174743U ,2024-06-18

[4]

多通道存储芯片测试老化结构 [P].

吴肖 ;

李文俊 ;

王亮 ;

周文平 ;

王锋 .

中国专利 :CN222281590U ,2024-12-31

[5]

存储芯片功耗测试装置 [P].

孙文琪 .

中国专利 :CN222600517U ,2025-03-11

[6]

一种多通道多CE存储芯片测试老化设备 [P].

王微 ;

陈健 ;

胡宇挺 .

中国专利 :CN218068066U ,2022-12-16

[7]

一种存储芯片测试机液冷系统 [P].

吴克明 ;

郑兴全 ;

徐茂强 .

中国专利 :CN221863376U ,2024-10-18

[8]

DDRSDRAM存储芯片多功能自动测试机 [P].

龙满珍 ;

何昭圣 .

中国专利 :CN115249511B ,2024-06-04

[9]

存储芯片测试组件 [P].

唐明星 ;

罗锡彦 ;

罗涛 ;

李伟 .

中国专利 :CN223566311U ,2025-11-18

[10]

一种存储芯片测试夹具 [P].

董育均 ;

朱战志 ;

张德继 ;

龚国栋 ;

刘斌 .

中国专利 :CN223742531U ,2025-12-30

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