一种多通道多CE存储芯片测试老化设备

被引：0

申请号：

CN202221640072.9

申请日：

2022-06-28

公开(公告)号：

CN218068066U

公开(公告)日：

2022-12-16

发明(设计)人：

王微陈健胡宇挺

申请人：

申请人地址：

317523 浙江省台州市温岭市泽国镇升达路4号（北边幢一楼）

IPC主分类号：

G01R104

IPC分类号：

G01R102 G01R3128

代理机构：

北京卓特专利代理事务所(普通合伙) 11572

代理人：

段宇

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2022-12-16	授权	授权

共 50 条

[1]

多通道存储芯片测试老化结构 [P].

吴肖 ;

李文俊 ;

王亮 ;

周文平 ;

王锋 .

中国专利 :CN222281590U ,2024-12-31

[2]

一种多通道存储芯片功耗分析测试机 [P].

王智慧 .

中国专利 :CN222260532U ,2024-12-27

[3]

BGA多SITE存储芯片测试插座 [P].

李斌 ;

李芳 ;

李宁 .

中国专利 :CN222260530U ,2024-12-27

[4]

BGA多SITE存储芯片测试插座 [P].

仇中燕 ;

周勇华 ;

周庆飞 .

中国专利 :CN214541585U ,2021-10-29

[5]

SOP多SITE存储芯片测试插座 [P].

仇中燕 ;

周勇华 ;

周庆飞 .

中国专利 :CN214624442U ,2021-11-05

[6]

一种存储芯片测试设备 [P].

张亚伟 ;

李婷婷 .

中国专利 :CN223513658U ,2025-11-04

[7]

一种存储芯片老化测试系统 [P].

张帆 ;

许展榕 ;

赖志铭 ;

陈四平 ;

周章菊 .

中国专利 :CN220324145U ,2024-01-09

[8]

一种存储芯片测试夹具 [P].

陈宗廷 ;

朱放中 .

中国专利 :CN220399501U ,2024-01-26

[9]

一种存储芯片测试座 [P].

洪育铠 ;

洪育铃 .

中国专利 :CN221746875U ,2024-09-20

[10]

一种多通道芯片测试设备 [P].

王焰华 .

中国专利 :CN215180662U ,2021-12-14

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