轴向电阻率均匀的硅单晶生长技术

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN201610364028.2
申请日
2016-05-30
公开(公告)号
CN105887193A
公开(公告)日
2016-08-24
发明(设计)人
张俊宝 刘浦锋 宋洪伟 陈猛
申请人
申请人地址
201604 上海市松江区石湖荡镇养石路88号
IPC主分类号
C30B2906
IPC分类号
C30B1504 C30B1516 C30B1520
代理机构
代理人
法律状态
发明专利申请公布后的视为撤回
国省代码
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共 50 条
[1]
一种掺杂电阻率均匀的N型铸造硅单晶及其制备方法 [P]. 
余学功 ;
肖承全 ;
杨德仁 .
中国专利 :CN102560646A ,2012-07-11
[2]
硅单晶电阻率标准样片校准装置 [P]. 
王昕 ;
李俊生 ;
叶灿明 ;
钟雄 .
中国专利 :CN217060345U ,2022-07-26
[3]
用于改善直拉硅单晶电阻率均匀性的导流筒结构 [P]. 
娄中士 ;
李亚哲 ;
马萌 ;
孙昊 ;
孙毅 .
中国专利 :CN204918835U ,2015-12-30
[4]
提高掺锑硅单晶轴向电阻均匀性的方法及掺锑硅单晶 [P]. 
王军磊 ;
乔乐 ;
付明全 ;
徐志群 .
中国专利 :CN120330871A ,2025-07-18
[5]
基于电阻率的硅单晶晶棒分段方法 [P]. 
王忠保 ;
芮阳 ;
白园 ;
马成 ;
王黎光 ;
曹启刚 ;
赵娜 ;
倪浩然 ;
赵延祥 .
中国专利 :CN118372380A ,2024-07-23
[6]
一种掺杂电阻率均匀的N型直拉硅单晶及其制备方法 [P]. 
余学功 ;
肖承全 ;
杨德仁 .
中国专利 :CN102560627A ,2012-07-11
[7]
提高直拉单晶硅轴向电阻率均匀性的方法及得到的单晶硅 [P]. 
杨德仁 ;
陈鹏 ;
余学功 ;
吴轶超 ;
陈仙子 .
中国专利 :CN102912424A ,2013-02-06
[8]
一种提高区熔硅单晶轴向与径向电阻率均匀性的反射环 [P]. 
刘铮 ;
王遵义 ;
娄中士 ;
韩暐 ;
涂颂昊 ;
孙昊 ;
王彦君 ;
张雪囡 ;
由佰玲 .
中国专利 :CN105177699A ,2015-12-23
[9]
一种提高区熔硅单晶轴向与径向电阻率均匀性的反射环 [P]. 
刘铮 ;
王遵义 ;
娄中士 ;
韩暐 ;
涂颂昊 ;
孙昊 ;
王彦君 ;
张雪囡 ;
由佰玲 .
中国专利 :CN205035488U ,2016-02-17
[10]
降低重掺砷硅单晶头部电阻率的拉晶方法 [P]. 
魏兴彤 ;
杨凯 ;
芮阳 ;
伊冉 ;
王忠保 ;
王黎光 ;
曹启刚 .
中国专利 :CN120138780A ,2025-06-13