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一种精密元器件测试盘
被引：0
专利类型：
实用新型
申请号：
CN201820364617.5
申请日：
2018-03-18
公开(公告)号：
CN208367039U
公开(公告)日：
2019-01-11
发明(设计)人：
罗小明
申请人：
申请人地址：
518000 广东省深圳市宝安区福永街道桥头社区正中工业园8栋3层中
IPC主分类号：
G01R104
IPC分类号：
代理机构：
代理人：
法律状态：
授权
国省代码：
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法律状态
| 法律状态公告日 | 法律状态 | 法律状态信息 |
| 2019-01-11 | 授权 | 授权 |