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一种精密元器件测试盘

被引：0
申请号：
CN202220597312.5
申请日：
2022-03-18
公开(公告)号：
CN217133342U
公开(公告)日：
2022-08-05
发明(设计)人：
张耕 张震方
申请人：
申请人地址：
300450 天津市滨海新区华苑产业区海泰绿色产业基地F座3门401-1室
IPC主分类号：
G01R3164
IPC分类号：
G01R104
代理机构：
天津市尚仪知识产权代理事务所(普通合伙) 12217
代理人：
邓琳
法律状态：
授权
国省代码：
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法律状态
法律状态公告日 法律状态 法律状态信息
2022-08-05 授权 授权
共 50 条
[1]
一种精密元器件测试盘 [P]. 
罗小明 .
中国专利 :CN208367039U ,2019-01-11
[2]
一种精密元器件测试盘的加工平台 [P]. 
罗小明 .
中国专利 :CN208034191U ,2018-11-02
[3]
一种精密元器件测试盘的加工平台 [P]. 
罗小明 .
中国专利 :CN208034106U ,2018-11-02
[4]
一种精密元器件分选盘及精密元器件加工设备 [P]. 
罗小明 .
中国专利 :CN208555070U ,2019-03-01
[5]
一种精密元器件测试盘的加工设备及方法 [P]. 
罗小明 ;
聂翔 ;
崔友元 .
中国专利 :CN119897640A ,2025-04-29
[6]
一种精密元器件测试盘的加工设备及方法 [P]. 
罗小明 ;
聂翔 ;
崔友元 .
中国专利 :CN119897640B ,2025-11-18
[7]
一种精密光学元器件载盘传输模组 [P]. 
李安琼 .
中国专利 :CN208882763U ,2019-05-21
[8]
一种精密气动元器件维修测试装置 [P]. 
孙华东 ;
顾溢希 ;
顾如江 .
中国专利 :CN201650932U ,2010-11-24
[9]
一种高精密元器件功能测试治具 [P]. 
陈增 ;
陈耀平 ;
李平 .
中国专利 :CN215641541U ,2022-01-25
[10]
一种电子元器件测试设备 [P]. 
刘乃松 ;
黄文治 ;
李孝文 ;
罗根生 .
中国专利 :CN221572703U ,2024-08-20
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