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一种半导体芯片测试用探针卡
被引：0
申请号：
CN202123336734.1
申请日：
2021-12-28
公开(公告)号：
CN217360016U
公开(公告)日：
2022-09-02
发明(设计)人：
余新文
陈洪良
申请人：
申请人地址：
215000 江苏省苏州市高新区泰山路2号43#
IPC主分类号：
G01R1073
IPC分类号：
代理机构：
上海利迅知识产权代理有限公司 31462
代理人：
孙刚
法律状态：
授权
国省代码：
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法律状态
| 法律状态公告日 | 法律状态 | 法律状态信息 |
| 2022-09-02 | 授权 | 授权 |