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半导体测试用拆装式探针卡
被引:0
专利类型
:
实用新型
申请号
:
CN202122183912.5
申请日
:
2021-09-10
公开(公告)号
:
CN215641422U
公开(公告)日
:
2022-01-25
发明(设计)人
:
黄诚
申请人
:
申请人地址
:
215000 江苏省苏州市吴江区黎里镇汾湖大道558号
IPC主分类号
:
G01R1067
IPC分类号
:
G01R3126
代理机构
:
深圳紫晴专利代理事务所(普通合伙) 44646
代理人
:
高兰
法律状态
:
授权
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2022-01-25
授权
授权
共 50 条
[1]
半导体测试用拆装式探针卡
[P].
张治强
论文数:
0
引用数:
0
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0
张治强
.
中国专利
:CN218240142U
,2023-01-06
[2]
一种半导体测试用拆装式探针卡
[P].
龙传忠
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
深圳市瀚鸿创芯科技有限公司
深圳市瀚鸿创芯科技有限公司
龙传忠
.
中国专利
:CN221707575U
,2024-09-13
[3]
一种半导体测试用拆装式探针卡
[P].
殷泽安
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
苏州译品芯半导体有限公司
苏州译品芯半导体有限公司
殷泽安
;
殷志鹏
论文数:
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0
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0
机构:
苏州译品芯半导体有限公司
苏州译品芯半导体有限公司
殷志鹏
;
殷泽华
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
苏州译品芯半导体有限公司
苏州译品芯半导体有限公司
殷泽华
.
中国专利
:CN221485507U
,2024-08-06
[4]
一种半导体芯片测试用探针卡
[P].
蒋次为
论文数:
0
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0
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0
蒋次为
.
中国专利
:CN210347722U
,2020-04-17
[5]
一种半导体芯片测试用探针卡
[P].
余新文
论文数:
0
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0
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0
余新文
;
陈洪良
论文数:
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0
陈洪良
.
中国专利
:CN217360016U
,2022-09-02
[6]
半导体测试用探针座
[P].
孙圣钦
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孙圣钦
.
中国专利
:CN209894852U
,2020-01-03
[7]
半导体芯片测试用弹簧探针
[P].
王悦聪
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王悦聪
;
徐艺凌
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0
徐艺凌
.
中国专利
:CN216209354U
,2022-04-05
[8]
半导体芯片测试用弹簧探针
[P].
韦洪贤
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韦洪贤
;
陈康筠
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陈康筠
;
王培吉
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0
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0
王培吉
.
中国专利
:CN215812942U
,2022-02-11
[9]
一种半导体测试用探针座
[P].
李越
论文数:
0
引用数:
0
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李越
.
中国专利
:CN212904999U
,2021-04-06
[10]
探针卡及半导体测试装置
[P].
彭群
论文数:
0
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0
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彭群
.
中国专利
:CN206920483U
,2018-01-23
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