半导体测试用拆装式探针卡

被引:0
专利类型
实用新型
申请号
CN202122183912.5
申请日
2021-09-10
公开(公告)号
CN215641422U
公开(公告)日
2022-01-25
发明(设计)人
黄诚
申请人
申请人地址
215000 江苏省苏州市吴江区黎里镇汾湖大道558号
IPC主分类号
G01R1067
IPC分类号
G01R3126
代理机构
深圳紫晴专利代理事务所(普通合伙) 44646
代理人
高兰
法律状态
授权
国省代码
引用
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共 50 条
[1]
半导体测试用拆装式探针卡 [P]. 
张治强 .
中国专利 :CN218240142U ,2023-01-06
[2]
一种半导体测试用拆装式探针卡 [P]. 
龙传忠 .
中国专利 :CN221707575U ,2024-09-13
[3]
一种半导体测试用拆装式探针卡 [P]. 
殷泽安 ;
殷志鹏 ;
殷泽华 .
中国专利 :CN221485507U ,2024-08-06
[4]
一种半导体芯片测试用探针卡 [P]. 
蒋次为 .
中国专利 :CN210347722U ,2020-04-17
[5]
一种半导体芯片测试用探针卡 [P]. 
余新文 ;
陈洪良 .
中国专利 :CN217360016U ,2022-09-02
[6]
半导体测试用探针座 [P]. 
孙圣钦 .
中国专利 :CN209894852U ,2020-01-03
[7]
半导体芯片测试用弹簧探针 [P]. 
王悦聪 ;
徐艺凌 .
中国专利 :CN216209354U ,2022-04-05
[8]
半导体芯片测试用弹簧探针 [P]. 
韦洪贤 ;
陈康筠 ;
王培吉 .
中国专利 :CN215812942U ,2022-02-11
[9]
一种半导体测试用探针座 [P]. 
李越 .
中国专利 :CN212904999U ,2021-04-06
[10]
探针卡及半导体测试装置 [P]. 
彭群 .
中国专利 :CN206920483U ,2018-01-23