一种半导体测试用拆装式探针卡

被引:0
专利类型
实用新型
申请号
CN202322501595.6
申请日
2023-09-14
公开(公告)号
CN221485507U
公开(公告)日
2024-08-06
发明(设计)人
殷泽安 殷志鹏 殷泽华
申请人
苏州译品芯半导体有限公司
申请人地址
215000 江苏省苏州市相城区黄埭镇春旺路12号
IPC主分类号
G01R1/073
IPC分类号
H01L21/66
代理机构
北京鼎云升知识产权代理事务所(普通合伙) 11495
代理人
刘建宇
法律状态
授权
国省代码
江苏省 苏州市
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共 50 条
[1]
半导体测试用拆装式探针卡 [P]. 
黄诚 .
中国专利 :CN215641422U ,2022-01-25
[2]
一种半导体测试用拆装式探针卡 [P]. 
龙传忠 .
中国专利 :CN221707575U ,2024-09-13
[3]
半导体测试用拆装式探针卡 [P]. 
张治强 .
中国专利 :CN218240142U ,2023-01-06
[4]
一种半导体芯片测试用探针卡 [P]. 
蒋次为 .
中国专利 :CN210347722U ,2020-04-17
[5]
一种半导体芯片测试用探针卡 [P]. 
余新文 ;
陈洪良 .
中国专利 :CN217360016U ,2022-09-02
[6]
一种半导体测试用探针座 [P]. 
李越 .
中国专利 :CN212904999U ,2021-04-06
[7]
半导体测试用探针座 [P]. 
孙圣钦 .
中国专利 :CN209894852U ,2020-01-03
[8]
半导体芯片测试用弹簧探针 [P]. 
王悦聪 ;
徐艺凌 .
中国专利 :CN216209354U ,2022-04-05
[9]
半导体芯片测试用弹簧探针 [P]. 
韦洪贤 ;
陈康筠 ;
王培吉 .
中国专利 :CN215812942U ,2022-02-11
[10]
一种半导体测试用高适用性的探针卡盘 [P]. 
毛丹辉 ;
朱腾飞 .
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