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半导体结构及其形成方法
被引:0
申请号
:
CN202011289258.X
申请日
:
2020-11-17
公开(公告)号
:
CN114512453A
公开(公告)日
:
2022-05-17
发明(设计)人
:
金吉松
苏柏青
亚伯拉罕·庾
申请人
:
申请人地址
:
201203 上海市浦东新区中国(上海)自由贸易试验区张江路18号
IPC主分类号
:
H01L2348
IPC分类号
:
H01L23528
H01L27088
H01L218234
H01L21768
代理机构
:
上海知锦知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 31327
代理人
:
高静
法律状态
:
公开
国省代码
:
引用
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2022-05-17
公开
公开
2022-06-03
实质审查的生效
实质审查的生效 IPC(主分类):H01L 23/48 申请日:20201117
共 50 条
[1]
半导体结构及其形成方法
[P].
周飞
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
周飞
.
中国专利
:CN113838802A
,2021-12-24
[2]
半导体结构及其形成方法
[P].
韩承英
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
韩承英
;
施雪捷
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
施雪捷
.
中国专利
:CN111554578A
,2020-08-18
[3]
半导体结构及其形成方法
[P].
王楠
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
王楠
.
中国专利
:CN111755513A
,2020-10-09
[4]
半导体结构及其形成方法
[P].
周飞
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
周飞
.
中国专利
:CN112309858A
,2021-02-02
[5]
半导体结构及其形成方法
[P].
刘继全
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
刘继全
.
中国专利
:CN113782485A
,2021-12-10
[6]
半导体结构及其形成方法
[P].
刘继全
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
中芯国际集成电路制造(上海)有限公司
中芯国际集成电路制造(上海)有限公司
刘继全
.
中国专利
:CN113782485B
,2025-01-28
[7]
半导体结构及其形成方法
[P].
李勇
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
李勇
.
中国专利
:CN109427678A
,2019-03-05
[8]
半导体结构及其形成方法
[P].
李勇
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
李勇
.
中国专利
:CN109216278B
,2019-01-15
[9]
半导体结构及其形成方法
[P].
赵猛
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
中芯国际集成电路制造(上海)有限公司
中芯国际集成电路制造(上海)有限公司
赵猛
.
中国专利
:CN112151377B
,2024-05-31
[10]
半导体结构及其形成方法
[P].
赵猛
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
赵猛
.
中国专利
:CN112151377A
,2020-12-29
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