一种超长金属腔体内部厚度及均匀性的检测方法与装置

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专利类型
发明
申请号
CN201610435627.9
申请日
2016-06-16
公开(公告)号
CN107514972A
公开(公告)日
2017-12-26
发明(设计)人
维克托·亚历山德罗维奇·斯莱德科夫 李梓萌
申请人
申请人地址
510000 广东省广州市荔湾区周门北路40号综合大楼202A房
IPC主分类号
G01B706
IPC分类号
代理机构
代理人
法律状态
公开
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共 50 条
[1]
一种超长金属腔体内部厚度及均匀性的检测方法与装置 [P]. 
维克托·亚历山德罗维奇·斯莱德科夫 ;
李梓萌 .
中国专利 :CN107514972B ,2024-05-31
[2]
一种光学元件厚度均匀性检测方法及装置 [P]. 
朱学亮 ;
王春慧 ;
茹佳玉 ;
李健辰 ;
刘思莹 ;
刘子洋 ;
田爱玲 .
中国专利 :CN120868929A ,2025-10-31
[3]
一种薄膜厚度及均匀性在线检测装置及方法 [P]. 
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[4]
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谭港川 ;
刘宝荣 ;
唐庆全 ;
李东 ;
李微弘 ;
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[5]
一种膜类产品厚度均匀性检测方法及装置 [P]. 
张凯凯 ;
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[6]
键合检测装置及方法和厚度均匀性检测装置及方法 [P]. 
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洪温振 ;
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[7]
膜层厚度均匀性的检测方法 [P]. 
董俊 ;
张顾斌 ;
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[8]
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阳诗海 ;
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[9]
一种绝缘涂层厚度均匀性检测方法 [P]. 
张鹏 .
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[10]
一种物料厚度均匀性的检测方法、装置、设备及存储介质 [P]. 
廖婷婷 ;
李旭东 ;
曾小信 ;
王春林 ;
吴伟淞 .
中国专利 :CN119178384A ,2024-12-24