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一种膜类产品厚度均匀性检测方法及装置

被引：0
专利类型：
发明
申请号：
CN202510902281.8
申请日：
2025-07-01
公开(公告)号：
CN120760606A
公开(公告)日：
2025-10-10
发明(设计)人：
张凯凯 刘鑫
申请人：
南通纳科达聚氨酯科技有限公司
申请人地址：
226000 江苏省南通市高新技术产业开发区金桥路999号
IPC主分类号：
G01B11/06
IPC分类号：
G01B5/00
代理机构：
南通国鑫智汇知识产权代理事务所(普通合伙) 32606
代理人：
杨昊
法律状态：
公开
国省代码：
河北省 保定市
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法律状态
法律状态公告日 法律状态 法律状态信息
2025-10-10 公开 公开
2025-10-28 实质审查的生效 实质审查的生效IPC(主分类):G01B 11/06申请日:20250701
共 50 条
[1]
一种光学元件厚度均匀性检测方法及装置 [P]. 
朱学亮 ;
王春慧 ;
茹佳玉 ;
李健辰 ;
刘思莹 ;
刘子洋 ;
田爱玲 .
中国专利 :CN120868929A ,2025-10-31
[2]
膜层厚度均匀性的检测方法 [P]. 
董俊 ;
张顾斌 ;
王雷 .
中国专利 :CN113628985A ,2021-11-09
[3]
一种纳米纤维膜的厚度均匀性检测装置 [P]. 
徐卫红 ;
徐晓东 ;
赵德中 ;
陈卫丰 .
中国专利 :CN119063639A ,2024-12-03
[4]
一种纳米纤维膜的厚度均匀性检测装置 [P]. 
徐卫红 ;
徐晓东 ;
赵德中 ;
陈卫丰 .
中国专利 :CN119063639B ,2025-05-09
[5]
一种铝颜料厚度均匀性分析检测方法及系统 [P]. 
矫建旺 ;
罗夔 ;
赵守元 ;
符兴家 ;
唐晓阳 ;
覃长江 ;
李仁伍 .
中国专利 :CN120927685A ,2025-11-11
[6]
一种工件厚度均匀性检测装置 [P]. 
杨莉玫 ;
钟金福 ;
肖国郁 .
中国专利 :CN117433437A ,2024-01-23
[7]
一种工件厚度均匀性检测装置 [P]. 
杨莉玫 ;
钟金福 ;
肖国郁 .
中国专利 :CN117433437B ,2024-02-20
[8]
键合检测装置及方法和厚度均匀性检测装置及方法 [P]. 
李勋 ;
洪温振 ;
蔡明达 .
中国专利 :CN115469472A ,2022-12-13
[9]
一种绝缘涂层厚度均匀性检测方法 [P]. 
张鹏 .
中国专利 :CN120868868A ,2025-10-31
[10]
一种图书纸张厚度均匀性检测装置 [P]. 
王江 .
中国专利 :CN216621024U ,2022-05-27
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