用于通过使用光分布来提高粒子成像设备中的测量精确度的装置、系统和方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201180032277.7

申请日：

2011-06-29

公开(公告)号：

CN103003683A

公开(公告)日：

2013-03-27

发明(设计)人：

W·D·罗斯 M·S·费希尔

申请人：

申请人地址：

美国得克萨斯州

IPC主分类号：

G01N1514

IPC分类号：

G01N33483 G01N2129

代理机构：

上海专利商标事务所有限公司 31100

代理人：

毛力

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2013-06-12	实质审查的生效	实质审查的生效号牌文件类型代码:1604 号牌文件序号:101472722147 IPC(主分类):G01N 15/14 专利申请号:2011800322777 申请日:20110629
2013-03-27	公开	公开
2015-04-15	授权	授权

共 50 条

[1]

用于通过使用光分布来提高粒子成像设备中的测量精确度的装置、系统和方法 [P].

W·D·罗斯 ;

M·S·费希尔 .

中国专利 :CN104764684A ,2015-07-08

[2]

用于提高颗粒成像设备中的测量准确度的装置、系统和方法 [P].

W·D·罗斯 ;

M·S·费希尔 .

中国专利 :CN103003660B ,2013-03-27

[3]

一种提高飞机重心测量精确度的方法 [P].

张宏辉 ;

张羽 ;

太云东 .

中国专利 :CN114383776A ,2022-04-22

[4]

提高精确度、移动侦测效率、省电的时差测距系统及方法 [P].

高铭璨 ;

许恩峯 ;

王传蔚 .

中国专利 :CN102298149A ,2011-12-28

[5]

用于增强确定衬底上的结构的坐标时的测量精确度的方法 [P].

伯塞尔·汉斯·阿图尔 ;

沙夫·安地列斯 .

中国专利 :CN101074866A ,2007-11-21

[6]

用于使用改进的剂量来进行成像的系统和方法 [P].

N·杰恩 ;

C·斯特恩斯 ;

S·V·艾斯 .

中国专利 :CN109864754A ,2019-06-11

[7]

用于使用改进的剂量来进行成像的系统和方法 [P].

N·杰恩 ;

C·斯特恩斯 ;

S·V·艾斯 .

美国专利 :CN109864754B ,2024-11-05

[8]

成像设备、成像系统和用于传输测量数据的方法 [P].

E·格德雷 ;

J·海因里希 ;

B·施魏克特 ;

P·M·杜彭贝克 ;

K·施瓦茨 ;

M·霍瑟曼 ;

M·比勒 .

德国专利 :CN120827386A ,2025-10-24

[9]

用于通过光散射测量颗粒尺寸分布的设备和方法 [P].

大卫·斯普里格斯 ;

邓肯·斯帝芬森 .

中国专利 :CN104067105A ,2014-09-24

[10]

一种提高U肋角焊缝测量精确度的超声相控阵检测方法 [P].

唐华伟 ;

赵敏 ;

莫力 ;

陈华青 ;

孙焕钦 ;

薛磊 ;

李荣 ;

周晓玺 ;

杨帆 ;

孙杰 ;

梁云家 ;

向威 ;

朱鸿元 ;

郁振炜 ;

李琼星 ;

苏杨 ;

刘鋆 .

中国专利 :CN114184672A ,2022-03-15

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