一种倒封装器件单粒子效应测试方法、系统、设备和介质

被引：0

申请号：

CN202210960391.6

申请日：

2022-08-11

公开(公告)号：

CN115356610A

公开(公告)日：

2022-11-18

发明(设计)人：

赵培雄刘杰孙友梅闫晓宇杨金虎

申请人：

申请人地址：

730013 甘肃省兰州市城关区南昌路509号

IPC主分类号：

G01R3126

IPC分类号：

G01R31265

代理机构：

北京纪凯知识产权代理有限公司 11245

代理人：

冀志华

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2022-11-18	公开	公开
2022-12-06	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G01R 31/26 申请日:20220811

共 50 条

[1]

一种倒封装器件单粒子评估方法 [P].

焦强 ;

芮二明 ;

刘文宝 ;

张伟 ;

郑宏超 .

中国专利 :CN113109645A ,2021-07-13

[2]

封装器件的单粒子效应的测试方法及相关设备 [P].

刘恒 ;

路浩通 ;

郑学恒 ;

高祎璠 .

中国专利 :CN117723854A ,2024-03-19

[3]

一种单粒子效应测试方法及测试系统 [P].

张弛 ;

陈朝晖 ;

刘玮 ;

丁晓兵 ;

余江 ;

徐鹏 ;

田得良 ;

郑茂然 ;

陆明 ;

张静伟 ;

陈旭 ;

刘千宽 ;

李捷 ;

甘卿忠 ;

黄智华 .

中国专利 :CN117420417A ,2024-01-19

[4]

一种空间单粒子效应测试方法 [P].

安恒 ;

杨生胜 ;

薛玉雄 ;

把得东 ;

马亚莉 ;

曹洲 .

中国专利 :CN104237685A ,2014-12-24

[5]

一种SRAM器件单粒子闭锁效应测试系统及方法 [P].

姚志斌 ;

张凤祁 ;

郭红霞 ;

何宝平 ;

罗尹虹 ;

赵雯 ;

丁李利 ;

王艳萍 ;

肖尧 ;

王园明 ;

张科营 ;

王伟 .

中国专利 :CN103165192B ,2013-06-19

[6]

一种电子器件的单粒子效应仿真方法、介质和设备 [P].

王长鑫 ;

高会壮 ;

陈波 ;

武荣荣 .

中国专利 :CN115099116A ,2022-09-23

[7]

一种电子器件的单粒子效应仿真方法、介质和设备 [P].

王长鑫 ;

高会壮 ;

陈波 ;

武荣荣 .

中国专利 :CN115099116B ,2024-11-12

[8]

一种基于FPGA的NAND FLASH器件单粒子效应测试系统 [P].

薛玉雄 ;

安恒 ;

杨生胜 ;

王德坤 ;

曹洲 ;

把得东 ;

石红 ;

汤道坦 ;

李存惠 .

中国专利 :CN102332310B ,2012-01-25

[9]

光纤通信模块单粒子效应测试系统和方法 [P].

马林东 ;

赵容 ;

祝伟明 ;

王昆黍 ;

王斐 ;

汪波 ;

楼建设 .

中国专利 :CN114355228A ,2022-04-15

[10]

光纤通信模块单粒子效应测试系统和方法 [P].

马林东 ;

赵容 ;

祝伟明 ;

王昆黍 ;

王斐 ;

汪波 ;

楼建设 .

中国专利 :CN114355228B ,2024-12-31

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