半导体装置及其制造方法

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申请号
CN202210538580.4
申请日
2022-05-18
公开(公告)号
CN115377211A
公开(公告)日
2022-11-22
发明(设计)人
金子寿辉 木村史哉
申请人
申请人地址
日本东京都
IPC主分类号
H01L29423
IPC分类号
H01L29786 H01L2134
代理机构
北京尚诚知识产权代理有限公司 11322
代理人
邸万杰;徐飞跃
法律状态
实质审查的生效
国省代码
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共 50 条
[1]
半导体装置及其制造方法 [P]. 
内田诚一 .
中国专利 :CN105814481A ,2016-07-27
[2]
半导体装置及其制造方法 [P]. 
青井信雄 ;
中川秀夫 ;
池田敦 .
中国专利 :CN1842904A ,2006-10-04
[3]
半导体装置及其制造方法 [P]. 
金辅淳 ;
金炫知 ;
李正允 ;
朴起宽 ;
朴商德 ;
吴怜默 ;
李庸硕 .
中国专利 :CN106960870A ,2017-07-18
[4]
半导体装置及其制造方法 [P]. 
池田敦 ;
中川秀夫 ;
青井信雄 .
中国专利 :CN100447979C ,2008-12-31
[5]
半导体装置及其制造方法 [P]. 
北角英人 .
中国专利 :CN105027296A ,2015-11-04
[6]
半导体装置及其制造方法 [P]. 
山崎舜平 ;
宫入秀和 ;
秋元健吾 ;
白石康次郎 .
中国专利 :CN105514124A ,2016-04-20
[7]
半导体装置及其制造方法 [P]. 
粉谷直树 ;
濑部绍夫 ;
冈崎玄 ;
玉置德彦 .
中国专利 :CN1983634A ,2007-06-20
[8]
半导体装置及其制造方法 [P]. 
山崎舜平 ;
宫入秀和 ;
秋元健吾 ;
白石康次郎 .
中国专利 :CN101640219A ,2010-02-03
[9]
半导体装置及其制造方法 [P]. 
肥塚纯一 ;
岛行德 ;
德永肇 ;
佐佐木俊成 ;
村山佳右 ;
松林大介 .
中国专利 :CN103779423A ,2014-05-07
[10]
半导体装置及其制造方法 [P]. 
肥塚纯一 ;
岛行德 ;
德永肇 ;
佐佐木俊成 ;
村山佳右 ;
松林大介 .
中国专利 :CN108649066A ,2018-10-12