基于深度学习的电子元件极性检测方法、系统及电子装置

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202010322621.7

申请日：

2020-04-22

公开(公告)号：

CN111640088A

公开(公告)日：

2020-09-08

发明(设计)人：

不公告发明人

申请人：

申请人地址：

518000 广东省深圳市南山区粤海街道高新技术产业园清华大学研究院B区413房

IPC主分类号：

G06T700

IPC分类号：

G06T711 G06T7136 G06T790 G06T500 G06K932 G06K962 G01N21956

代理机构：

深圳市瑞方达知识产权事务所(普通合伙) 44314

代理人：

冯小梅

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2020-10-02	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G06T 7/00 申请日:20200422
2020-09-08	公开	公开

共 50 条

[1]

提供电子元件极性检测系统及其方法 [P].

刘皓 .

中国专利 :CN115131263A ,2022-09-30

[2]

电子元件检测系统及方法 [P].

黄郁儒 ;

黄启铭 ;

陈鸿文 .

中国专利 :CN111829948A ,2020-10-27

[3]

基于深度学习的电子元件图像智能分析方法、装置及设备 [P].

李亮 ;

肖志轩 ;

唐志宏 ;

郑剑杰 ;

王顶 ;

金建华 .

中国专利 :CN119672395A ,2025-03-21

[4]

基于深度学习的目标检测方法及电子装置 [P].

王健宗 ;

贾雪丽 .

中国专利 :CN110503088A ,2019-11-26

[5]

基于深度学习的目标检测方法及电子装置 [P].

王健宗 ;

贾雪丽 .

中国专利 :CN110503088B ,2024-05-07

[6]

电子元件的检测系统及检测方法 [P].

丁万春 ;

范伟 .

中国专利 :CN106409716A ,2017-02-15

[7]

一种基于深度学习的电子元件目标提取方法及系统 [P].

卞钟晗 ;

张恒 ;

陆小锋 ;

吴海燕 .

中国专利 :CN117351224A ,2024-01-05

[8]

电子元件与检测系统的组合与电子元件的检测方法 [P].

洪东昇 .

中国专利 :CN103163361A ,2013-06-19

[9]

检测电子元件的方法以及电子装置 [P].

黄治富 .

中国专利 :CN117761585A ,2024-03-26

[10]

层叠电子元件、电子装置及层叠电子元件的制造方法 [P].

木村真宏 ;

齐藤善史 .

中国专利 :CN100521169C ,2008-02-13

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