一种适用于芯片测试的功能切换电路

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN201420148740.5

申请日：

2014-03-28

公开(公告)号：

CN203800922U

公开(公告)日：

2014-08-27

发明(设计)人：

李晓骏

申请人：

申请人地址：

710055 陕西省西安市高新6路38号腾飞创新中心A座4层

IPC主分类号：

H03M900

IPC分类号：

代理机构：

西安智邦专利商标代理有限公司 61211

代理人：

胡乐

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2014-08-27	授权	授权
2018-08-31	避免重复授权放弃专利权	避免重复授予专利权 IPC(主分类):H03M 9/00 申请日:20140328 授权公告日:20140827 放弃生效日:20180821
2016-08-17	专利权人的姓名或者名称、地址的变更	专利权人的姓名或者名称、地址的变更号牌文件类型代码:1602 号牌文件序号:101737552747 IPC(主分类):H03M 9/00 专利号:ZL2014201487405 变更事项:专利权人变更前:西安华芯半导体有限公司变更后:西安紫光国芯半导体有限公司变更事项:地址变更前:710055 陕西省西安市高新6路38号腾飞创新中心A座4层变更后:710055 陕西省西安市高新6路38号腾飞创新中心A座4层

共 50 条

[1]

一种适用于芯片测试的功能切换电路 [P].

李晓骏 .

中国专利 :CN103916132B ,2014-07-09

[2]

一种适用于芯片测试的电路 [P].

李晓骏 .

中国专利 :CN203800923U ,2014-08-27

[3]

一种适用于芯片测试的电路 [P].

李晓骏 .

中国专利 :CN103916133B ,2014-07-09

[4]

一种用于切换芯片测试功能的电路 [P].

冯润铭 ;

王树锋 ;

刘建中 .

中国专利 :CN221926542U ,2024-10-29

[5]

一种适用于芯片的电源测试电路 [P].

全光浩 ;

崔松一 .

中国专利 :CN222420493U ,2025-01-28

[6]

芯片测试模式切换电路 [P].

刘杨 ;

张巍 ;

张锋 ;

吴修英 ;

易峰 .

中国专利 :CN213069089U ,2021-04-27

[7]

适用于高频测试的芯片测试插座 [P].

宋成龙 ;

邱信辉 .

中国专利 :CN214310786U ,2021-09-28

[8]

适用于芯片测试系统的测试平台 [P].

余占清 ;

刘佳鹏 ;

曾嵘 ;

陈政宇 ;

任春频 ;

赵彪 .

中国专利 :CN212965280U ,2021-04-13

[9]

适用于高频测试的芯片测试插座 [P].

高宗英 ;

周勇华 ;

高凯 ;

殷岚勇 .

中国专利 :CN204302321U ,2015-04-29

[10]

一种适用于条状芯片测试的吸盘 [P].

黄宏军 .

中国专利 :CN211318530U ,2020-08-21

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