一种用于切换芯片测试功能的电路

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN202420421091.5

申请日：

2024-03-05

公开(公告)号：

CN221926542U

公开(公告)日：

2024-10-29

发明(设计)人：

冯润铭王树锋刘建中

申请人：

晶方云（广东）测试设备有限公司

申请人地址：

523690 广东省东莞市凤岗镇东深路凤岗段208号凤岗天安数码城15号楼101室

IPC主分类号：

G01R31/28

IPC分类号：

G01R31/52 G01R31/54

代理机构：

深圳国海智峰知识产权代理事务所(普通合伙) 44489

代理人：

彭兰清

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2024-10-29	授权	授权

共 50 条

[1]

一种适用于芯片测试的功能切换电路 [P].

李晓骏 .

中国专利 :CN203800922U ,2014-08-27

[2]

一种适用于芯片测试的功能切换电路 [P].

李晓骏 .

中国专利 :CN103916132B ,2014-07-09

[3]

芯片测试模式切换电路 [P].

刘杨 ;

张巍 ;

张锋 ;

吴修英 ;

易峰 .

中国专利 :CN213069089U ,2021-04-27

[4]

一种用于芯片测试的电路结构 [P].

陈石 ;

于福振 .

中国专利 :CN221841156U ,2024-10-15

[5]

一种用于芯片测试的安全电路 [P].

乔瑛 ;

张章 ;

丁义民 ;

董宇 ;

侯书珺 ;

郭耀华 ;

王清智 ;

许秋林 .

中国专利 :CN206353192U ,2017-07-25

[6]

一种用于带电池功能设备的切换电路 [P].

陈亮 .

中国专利 :CN208691000U ,2019-04-02

[7]

电源切换电路及其芯片测试系统 [P].

何龙 ;

潘俊 ;

叶升 ;

邱雷 ;

戴沂伦 .

中国专利 :CN119853432A ,2025-04-18

[8]

芯片扫描链测试模式切换电路 [P].

李昌盛 ;

易峰 ;

刘杨 ;

张巍 .

中国专利 :CN213069090U ,2021-04-27

[9]

一种适用于芯片测试的电路 [P].

李晓骏 .

中国专利 :CN203800923U ,2014-08-27

[10]

用于充电电路的切换电路 [P].

孙龙亚 .

中国专利 :CN210225033U ,2020-03-31

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