一种用于芯片测试的安全电路

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN201621306544.1

申请日：

2016-12-01

公开(公告)号：

CN206353192U

公开(公告)日：

2017-07-25

发明(设计)人：

乔瑛张章丁义民董宇侯书珺郭耀华王清智许秋林

申请人：

申请人地址：

100083 北京市海淀区五道口王庄路1号同方科技广场D座西楼18层

IPC主分类号：

G01R3128

IPC分类号：

G11C2912

代理机构：

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法律状态：

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法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2017-07-25	授权	授权

共 50 条

[1]

一种用于芯片测试的电路结构 [P].

陈石 ;

于福振 .

中国专利 :CN221841156U ,2024-10-15

[2]

一种用于切换芯片测试功能的电路 [P].

冯润铭 ;

王树锋 ;

刘建中 .

中国专利 :CN221926542U ,2024-10-29

[3]

一种适用于芯片测试的电路 [P].

李晓骏 .

中国专利 :CN203800923U ,2014-08-27

[4]

一种用于芯片测试的继电器扩容电路 [P].

唐锐 .

中国专利 :CN220491804U ,2024-02-13

[5]

芯片安全测试电路、方法及设备 [P].

曲晨冰 ;

王乃晔 ;

侯波 ;

孙宸 ;

王力纬 ;

恩云飞 ;

黄云 ;

路国光 .

中国专利 :CN116359708B ,2024-05-17

[6]

一种用于芯片测试的测试设备 [P].

杨胜利 ;

史赛 .

中国专利 :CN216351083U ,2022-04-19

[7]

一种用于芯片的测试插座及其测试电路 [P].

施元军 ;

刘凯 .

中国专利 :CN106199385A ,2016-12-07

[8]

一种测试芯片的测试电路 [P].

全光浩 ;

崔松一 .

中国专利 :CN222838157U ,2025-05-06

[9]

一种芯片功耗测试电路 [P].

顾胜 .

中国专利 :CN216248224U ,2022-04-08

[10]

一种用于集成电路芯片的测试工装 [P].

胡斌 .

中国专利 :CN218298332U ,2023-01-13

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