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用于测试集成电路及包含所述集成电路的电路板的测试系统、方法
被引：0
专利类型：
发明
申请号：
CN201711070993.X
申请日：
2017-11-03
公开(公告)号：
CN109765469B
公开(公告)日：
2019-05-17
发明(设计)人：
张佑榕
廖纬凯
林明庆
曾奎皓
申请人：
申请人地址：
中国台湾高雄市楠梓加工区经三路26号邮编81170
IPC主分类号：
G01R3126
IPC分类号：
代理机构：
北京律盟知识产权代理有限责任公司 11287
代理人：
蕭輔寬
法律状态：
实质审查的生效
国省代码：
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法律状态
| 法律状态公告日 | 法律状态 | 法律状态信息 |
| 2019-06-11 | 实质审查的生效 | 实质审查的生效 IPC(主分类):G01R 31/26 申请日:20171103 |
| 2022-06-24 | 授权 | 授权 |
| 2019-05-17 | 公开 | 公开 |