学术探索
学术期刊
学术作者
新闻热点
数据分析
智能评审

晶圆表面缺陷的检测方法、装置、计算机设备和存储介质

被引：0
申请号：
CN202210485108.9
申请日：
2022-05-06
公开(公告)号：
CN114926413A
公开(公告)日：
2022-08-19
发明(设计)人：
陈伟 孙玲
申请人：
申请人地址：
230601 安徽省合肥市经济技术开发区空港工业园兴业大道388号
IPC主分类号：
G06T700
IPC分类号：
G06T762
代理机构：
华进联合专利商标代理有限公司 44224
代理人：
郭凤杰
法律状态：
公开
国省代码：
引用
下载
收藏
法律状态
法律状态公告日 法律状态 法律状态信息
2022-08-19 公开 公开
2022-09-06 实质审查的生效 实质审查的生效 IPC(主分类):G06T 7/00 申请日:20220506
共 50 条
[1]
晶圆表面缺陷的检测方法、系统、计算机设备和存储介质 [P]. 
陈伟 ;
孙玲 .
中国专利 :CN114878590A ,2022-08-09
[2]
晶圆表面缺陷的检测方法、系统、计算机设备和存储介质 [P]. 
陈伟 ;
孙玲 .
中国专利 :CN114878590B ,2025-11-14
[3]
晶圆缺陷的检测方法、装置、计算机设备和存储介质 [P]. 
蔡刘根 ;
章军 .
中国专利 :CN120352431A ,2025-07-22
[4]
表面缺陷检测方法及装置、计算机设备和存储介质 [P]. 
江志坚 ;
王劦 ;
吴小彬 .
中国专利 :CN117828352A ,2024-04-05
[5]
PCB表面缺陷检测方法、装置、计算机设备和存储介质 [P]. 
李泉洲 ;
胡宁 ;
蒋诗新 ;
刘振国 ;
郑清文 .
中国专利 :CN117557538A ,2024-02-13
[6]
钢铁表面缺陷检测方法、装置、计算机设备和存储介质 [P]. 
李潭 ;
宋伟宁 ;
陈南江 ;
高方方 ;
吴守栾 ;
宋超 ;
王琪 ;
林燕文 ;
殷润民 .
中国专利 :CN120726028A ,2025-09-30
[7]
钢铁表面缺陷检测方法、装置、计算机设备和存储介质 [P]. 
李潭 ;
宋伟宁 ;
陈南江 ;
高方方 ;
吴守栾 ;
宋超 ;
王琪 ;
林燕文 ;
殷润民 .
中国专利 :CN120726028B ,2025-10-31
[8]
晶圆缺陷检测方法、装置、计算机设备和介质 [P]. 
吴强 ;
尚浩天 ;
崔可涛 ;
张彩红 ;
陈思乡 .
中国专利 :CN119540134A ,2025-02-28
[9]
滚子表面缺陷检测方法、计算机设备和存储介质 [P]. 
马跃洋 ;
尹青青 ;
刘丙才 ;
朱学亮 ;
王红军 ;
田爱玲 .
中国专利 :CN119784709B ,2025-10-03
[10]
滚子表面缺陷检测方法、计算机设备和存储介质 [P]. 
马跃洋 ;
尹青青 ;
刘丙才 ;
朱学亮 ;
王红军 ;
田爱玲 .
中国专利 :CN119784709A ,2025-04-08
12345