基于光学系统鬼像测量装置的光学系统鬼像测量方法

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN201610717298.7
申请日
2016-08-24
公开(公告)号
CN106248351B
公开(公告)日
2016-12-21
发明(设计)人
薛勋 赵建科 刘尚阔 张洁 胡丹丹 李坤 曹昆 昌明 王争锋 李晶 赵怀学 陈永权 段亚轩 田留德 潘亮 徐亮 刘峰 赛建刚 周艳 高斌 高博
申请人
申请人地址
710119 陕西省西安市高新区新型工业园信息大道17号
IPC主分类号
G01M1102
IPC分类号
代理机构
西安智邦专利商标代理有限公司 61211
代理人
汪海艳
法律状态
实质审查的生效
国省代码
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共 50 条
[1]
一种光学系统鬼像测量装置 [P]. 
薛勋 ;
赵建科 ;
刘尚阔 ;
张洁 ;
胡丹丹 ;
李坤 ;
曹昆 ;
昌明 ;
王争锋 ;
李晶 ;
赵怀学 ;
陈永权 ;
段亚轩 ;
田留德 ;
潘亮 ;
徐亮 ;
刘峰 ;
赛建刚 ;
周艳 ;
高斌 ;
高博 .
中国专利 :CN206114256U ,2017-04-19
[2]
一种光学系统鬼像测量方法及系统 [P]. 
吴方 ;
卢庆杰 ;
卢苑云 ;
赵治平 .
中国专利 :CN112067254B ,2020-12-11
[3]
取像光学系统 [P]. 
汤相岐 ;
林铭清 .
中国专利 :CN101762864B ,2010-06-30
[4]
拾像光学系统 [P]. 
谢东益 ;
黄歆璇 .
中国专利 :CN102866479B ,2013-01-09
[5]
拾像光学系统 [P]. 
谢东益 ;
黄歆璇 .
中国专利 :CN202305970U ,2012-07-04
[6]
拾像光学系统 [P]. 
唐乃元 .
中国专利 :CN100476493C ,2007-08-01
[7]
测量光学系统参数的测量装置及其测量方法 [P]. 
刘国淦 ;
蔡燕民 .
中国专利 :CN101226344B ,2008-07-23
[8]
用于测量光学系统中下降的电压的测量装置和测量方法、光学系统和光刻系统 [P]. 
O·赫伯斯特 .
德国专利 :CN119907925A ,2025-04-29
[9]
取像用光学系统 [P]. 
蔡宗翰 .
中国专利 :CN202041705U ,2011-11-16
[10]
取像用光学系统 [P]. 
蔡宗翰 .
中国专利 :CN102566017A ,2012-07-11