一种用于半导体测试装置的旋转机架

被引:0
专利类型
实用新型
申请号
CN201821576380.3
申请日
2018-09-27
公开(公告)号
CN208833812U
公开(公告)日
2019-05-07
发明(设计)人
何俊 肖尧
申请人
申请人地址
518000 广东省深圳市宝安区石岩街道水田社区汇龙达工业园厂房B3楼东侧
IPC主分类号
G01R104
IPC分类号
G01R3126
代理机构
北京中济纬天专利代理有限公司 11429
代理人
卢春华
法律状态
授权
国省代码
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共 50 条
[1]
用于半导体测试装置的旋转机架 [P]. 
王浩 ;
王刚 ;
张陈涛 ;
张伟 .
中国专利 :CN207586256U ,2018-07-06
[2]
一种用于半导体测试装置的旋转机架 [P]. 
李维繁星 .
中国专利 :CN218036900U ,2022-12-13
[3]
一种用于半导体测试装置的旋转机架 [P]. 
王浩 ;
王刚 ;
张陈涛 ;
张伟 .
中国专利 :CN107607749A ,2018-01-19
[4]
用于半导体测试旋转机架的旋转机构 [P]. 
王浩 ;
王刚 ;
张伟 ;
冉燕 .
中国专利 :CN207457281U ,2018-06-05
[5]
一种用于半导体测试旋转机架的旋转机构 [P]. 
王浩 ;
王刚 ;
张伟 ;
冉燕 .
中国专利 :CN107656101A ,2018-02-02
[6]
一种半导体测试装置 [P]. 
赖士文 ;
储利强 ;
邱景来 ;
陈象象 ;
吴仲山 .
中国专利 :CN216013571U ,2022-03-11
[7]
一种用于半导体的测试装置 [P]. 
季承 ;
李欣宇 ;
孙经岳 .
中国专利 :CN215414215U ,2022-01-04
[8]
一种用于半导体测试装置的刀片针机构及半导体测试装置 [P]. 
唐仁伟 ;
孙成扬 ;
丁骥 ;
吴勇红 .
中国专利 :CN222354018U ,2025-01-14
[9]
一种用于半导体测试装置的刀片针机构及半导体测试装置 [P]. 
唐仁伟 ;
孙成扬 ;
丁骥 ;
吴勇红 .
中国专利 :CN222354017U ,2025-01-14
[10]
一种半导体封装测试装置 [P]. 
赖金榜 .
中国专利 :CN211479983U ,2020-09-11