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用于测试集成电路的方法及系统

被引：0
专利类型：
发明
申请号：
CN202110529993.1
申请日：
2021-05-14
公开(公告)号：
CN113687208A
公开(公告)日：
2021-11-23
发明(设计)人：
撒母耳·夏布尤 安东尼·莫瑞 尚帕斯卡·玛朗宁奇
申请人：
申请人地址：
法国梅瑞尤尔
IPC主分类号：
G01R3128
IPC分类号：
代理机构：
北京三幸商标专利事务所(普通合伙) 11216
代理人：
刘卓然
法律状态：
公开
国省代码：
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法律状态
法律状态公告日 法律状态 法律状态信息
2021-11-23 公开 公开
共 50 条
[1]
集成电路及用于测试集成电路的方法 [P]. 
克莱夫·大卫·比特尔斯通 .
中国专利 :CN104777414A ,2015-07-15
[2]
集成电路测试系统及集成电路测试系统的控制方法 [P]. 
徐正元 .
中国专利 :CN102854455A ,2013-01-02
[3]
用于集成电路的测试电路系统 [P]. 
S·杰恩 ;
P·杰恩 ;
E·帕勒 .
:CN222913807U ,2025-05-27
[4]
用于测试集成电路的方法和设备 [P]. 
桑伟伟 ;
张旺根 .
中国专利 :CN106291313B ,2017-01-04
[5]
集成电路扫描测试的方法及系统 [P]. 
杨文彬 ;
万郁葱 ;
陈志军 .
中国专利 :CN113589153A ,2021-11-02
[6]
集成电路及用于测试多TAP集成电路的方法 [P]. 
约西·阿蒙 ;
迪米特里·阿克塞尔罗德 ;
埃亚尔·谢尔盖耶 .
中国专利 :CN101065679B ,2007-10-31
[7]
用于测试集成电路及包含所述集成电路的电路板的测试系统、方法 [P]. 
张佑榕 ;
廖纬凯 ;
林明庆 ;
曾奎皓 .
中国专利 :CN109765469B ,2019-05-17
[8]
集成电路测试方法和集成电路测试系统 [P]. 
张晓磊 .
中国专利 :CN114264936A ,2022-04-01
[9]
可测试的集成电路及集成电路的测试方法 [P]. 
桑迪普库马尔·戈埃尔 ;
何塞德耶稣·皮内达德干维兹 ;
伦泽·I·M·P·迈耶 .
中国专利 :CN101365956A ,2009-02-11
[10]
集成电路的测试系统及方法 [P]. 
黄锦盛 .
中国专利 :CN120595087A ,2025-09-05
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