共 50 条
[1]
[2]
[3]
[4]
[5]
[6]
[7]
[8]
[9]
[10]
一种半导体测试装置
被引：0
申请号：
CN202221861238.X
申请日：
2022-07-19
公开(公告)号：
CN218101177U
公开(公告)日：
2022-12-20
发明(设计)人：
陈玉成
高涛
曾广锋
申请人：
申请人地址：
523808 广东省东莞市松山湖园区学府路1号12栋503室
IPC主分类号：
H01L2166
IPC分类号：
H01L21687
H01L2168
代理机构：
广州三环专利商标代理有限公司 44202
代理人：
刘志敏
法律状态：
授权
国省代码：
引用
下载
收藏
法律状态
| 法律状态公告日 | 法律状态 | 法律状态信息 |
| 2022-12-20 | 授权 | 授权 |