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一种厚膜集成电路定位测试治具
被引：0
专利类型：
实用新型
申请号：
CN202020740144.1
申请日：
2020-04-30
公开(公告)号：
CN212947361U
公开(公告)日：
2021-04-13
发明(设计)人：
刘文俊
吕文硕
杨军
申请人：
申请人地址：
201700 上海市青浦区华浦路480号1幢2层D区208室
IPC主分类号：
B25B1100
IPC分类号：
代理机构：
代理人：
法律状态：
授权
国省代码：
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法律状态
| 法律状态公告日 | 法律状态 | 法律状态信息 |
| 2021-04-13 | 授权 | 授权 |